发明名称 半导体装置及其制造方法以及电子设备
摘要 在薄膜晶体管(1)中,在绝缘性基板(2)上的栅电极(3)上,经由栅极绝缘层(4)层叠半导体层(5),在其上面形成源电极(5)和漏电极(7),进而形成将其上面覆盖的保护层(8),使半导体层(5)与气氛隔离。半导体层(5)(活性层)采用例如添加了V族元素的ZnO的多晶状态的半导体而形成。ZnO是,因保护层(8)而减少其表面能级,由于向内部的耗尽层扩展被消除,因此ZnO为表示原本的电阻值的n型半导体,处于自由电子过剩的状态。由于被添加的元素相对ZnO作为受主杂质发挥作用,因此减少了过剩的自由电子。这样,由于用于排除过剩的自由电子的栅电极电压降低了,因此阈值电压处于0V附近。这样,一种将氧化锌用于活性层,且具有使活性层与气氛隔离的保护层的半导体装置便能够得到实用了。
申请公布号 CN1806322A 申请公布日期 2006.07.19
申请号 CN200480016784.1 申请日期 2004.06.14
申请人 夏普株式会社;大野英男;川崎雅司 发明人 杉原利典;大野英男;川崎雅司
分类号 H01L21/336(2006.01);H01L29/786(2006.01) 主分类号 H01L21/336(2006.01)
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 李香兰
主权项 1、一种半导体装置,其特征在于,具备:活性层,其由ZnO或者MgxZn1-xO的多晶状态、非晶状态、或者多晶状态与非晶状态混合存在的状态的半导体组成,并添加了I族、III族、IV族、V族或者VII族元素;和隔离体,其使所述活性层,在所述活性层中的可移动电荷移动的区域不受气氛的影响的范围内,与气氛隔离。
地址 日本大阪府