发明名称 |
芯片光刻制程中油浸式曝光方法 |
摘要 |
本发明涉及芯片的光学刻制加工方法,尤其是指芯片光刻制程中油浸式曝光方法。其特征在于包括下述的步骤:(1)首先在光刻机的光罩透镜系统中置入曝光介质;(2)在曝光反应室内,在“对准和曝光”工序之前芯片加涂曝光介质;(3)平展芯片表面上的曝光介质,使其均匀一致且不得出现气泡;(4)将光罩移至芯片之上,微调下降透镜系统,使透镜镜片触及芯片上的曝光介质。所说的曝光介质是植物油并优选一种香柏油。采用本发明以油为介质的油浸式曝光方法,不仅可以刻制出比曝光波长还小的图形,而且避免了昂贵的费用投资。本发明实为一种有益的改进。 |
申请公布号 |
CN1804724A |
申请公布日期 |
2006.07.19 |
申请号 |
CN200510002157.9 |
申请日期 |
2005.01.14 |
申请人 |
朱晓 |
发明人 |
朱晓 |
分类号 |
G03F7/20(2006.01);H01L21/027(2006.01) |
主分类号 |
G03F7/20(2006.01) |
代理机构 |
中国商标专利事务所有限公司 |
代理人 |
徐小琴 |
主权项 |
1、一种芯片光刻制程中油浸式曝光方法,其特征在于包括下述的步骤:(1)首先在光刻机的光罩透镜系统中置入曝光介质;(2)在曝光反应室内,在“对准和曝光”工序之前芯片加涂曝光介质;(3)平展芯片表面上的曝光介质,使其均匀一致且不得出现气泡;(4)将光罩移至芯片之上,微调下降透镜系统,使透镜镜片触及芯片上的曝光介质。 |
地址 |
100044北京市海淀区首体南路20号4号楼407室 |