| 发明名称 | 一种高反镜反射率的测量方法 | ||
| 摘要 | 一种高反镜反射率的测量方法，其特征在于：采用方波或正弦波调制的宽谱连续激光作光源，入射到两块高反镜组成的稳定谐振腔，由方波调制时单个周期波形的上升阶段和下降阶段拟合得到衰荡时间和腔镜反射率，或以锁相方式探测光腔输出信号的一次或奇次谐波，由其振幅和相位正切值随调制角频率的变化曲线拟合得到衰荡时间和腔镜反射率。保持腔长不变，加入测试镜组成稳定折叠腔，重复上述过程可得测试镜反射率。本发明测量精度高，成本低。 | ||
| 申请公布号 | CN1804572A | 申请公布日期 | 2006.07.19 |
| 申请号 | CN200610011254.9 | 申请日期 | 2006.01.23 |
| 申请人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明人 | 李斌成;龚元 |
| 分类号 | G01M11/02(2006.01);G01N21/55(2006.01) | 主分类号 | G01M11/02(2006.01) |
| 代理机构 | 北京科迪生专利代理有限责任公司 | 代理人 | 刘秀娟;成金玉 |
| 主权项 | 1.一种高反镜反射率的测量方法，其特征在于：(1)将一束方波或正弦波调制的宽谱连续激光，入射到两块平凹高反镜组成的稳定光学谐振腔，两块高反镜垂直于光路、凹面相对且使激光从镜面中心通过，激光从一平凹高反镜进入谐振腔，在谐振腔内来回多次反射，部分激光束从另一平凹高反镜输出，由光电探测器接收该输出激光束得到输出电流或电压信号；(2)记录输出电流或电压信号的波形、一次或奇次谐波振幅和相位，从而得到衰荡时间、腔镜和测试镜的反射率； | ||
| 地址 | 610209四川省成都市双流350信箱 | ||