发明名称 T型栅金属剥离方法
摘要 一种T型栅金属剥离方法,包括如下步骤:将蒸发后的芯片放入盛有丙酮试剂的容器中,保证芯片浸于液面以下,栅线条以外的金属会剥落;确认表面金属大面积剥落后,将芯片从丙酮试剂中取出,在乙醇溶液、水进行冲洗;用氮气吹干芯片;在紫外光曝光灯下曝光;将芯片放入TMAH∶H<SUB>2</SUB>O=4∶1溶液中浸泡;用水冲干净试剂,氮气吹干;将芯片放入盛有丙酮试剂的容器中浸泡,保证芯片浸于液面以下;将芯片从丙酮试剂中取出,在乙醇溶液、水进行冲洗;用氮气吹干芯片;检查表面情况,完成金属剥离工序。
申请公布号 CN1265436C 申请公布日期 2006.07.19
申请号 CN03137829.3 申请日期 2003.05.21
申请人 中国科学院微电子中心 发明人 张海英;刘训春
分类号 H01L21/28(2006.01) 主分类号 H01L21/28(2006.01)
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 汤保平
主权项 1、一种T型栅金属剥离方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)将进行金属蒸发后的芯片放入盛有丙酮试剂的容器中,保证芯片浸于液面以下,栅线条以外的金属会剥落;(2)确认芯片表面金属大面积剥落后,将芯片从丙酮试剂中取出,在乙醇溶液、水中进行冲洗;(3)用氮气吹干芯片;(4)在紫外光曝光灯下曝光;(5)将芯片放入TMAH∶H2O=4∶1溶液中浸泡;(6)用水冲干净芯片上的溶液,氮气吹干;(7)将芯片放入盛有丙酮试剂的容器中浸泡,保证芯片浸于液面以下;(8)将芯片从丙酮试剂中取出,用乙醇溶液、水进行冲洗;(9)用氮气吹干芯片;(10)检查表面情况,完成金属剥离工序。
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