发明名称 | T型栅金属剥离方法 | ||
摘要 | 一种T型栅金属剥离方法,包括如下步骤:将蒸发后的芯片放入盛有丙酮试剂的容器中,保证芯片浸于液面以下,栅线条以外的金属会剥落;确认表面金属大面积剥落后,将芯片从丙酮试剂中取出,在乙醇溶液、水进行冲洗;用氮气吹干芯片;在紫外光曝光灯下曝光;将芯片放入TMAH∶H<SUB>2</SUB>O=4∶1溶液中浸泡;用水冲干净试剂,氮气吹干;将芯片放入盛有丙酮试剂的容器中浸泡,保证芯片浸于液面以下;将芯片从丙酮试剂中取出,在乙醇溶液、水进行冲洗;用氮气吹干芯片;检查表面情况,完成金属剥离工序。 | ||
申请公布号 | CN1265436C | 申请公布日期 | 2006.07.19 |
申请号 | CN03137829.3 | 申请日期 | 2003.05.21 |
申请人 | 中国科学院微电子中心 | 发明人 | 张海英;刘训春 |
分类号 | H01L21/28(2006.01) | 主分类号 | H01L21/28(2006.01) |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 汤保平 |
主权项 | 1、一种T型栅金属剥离方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)将进行金属蒸发后的芯片放入盛有丙酮试剂的容器中,保证芯片浸于液面以下,栅线条以外的金属会剥落;(2)确认芯片表面金属大面积剥落后,将芯片从丙酮试剂中取出,在乙醇溶液、水中进行冲洗;(3)用氮气吹干芯片;(4)在紫外光曝光灯下曝光;(5)将芯片放入TMAH∶H2O=4∶1溶液中浸泡;(6)用水冲干净芯片上的溶液,氮气吹干;(7)将芯片放入盛有丙酮试剂的容器中浸泡,保证芯片浸于液面以下;(8)将芯片从丙酮试剂中取出,用乙醇溶液、水进行冲洗;(9)用氮气吹干芯片;(10)检查表面情况,完成金属剥离工序。 | ||
地址 | 100029北京市北京德胜门外祁家豁子 |