发明名称 | 成型片材制造装置中的成形相位对齐装置 | ||
摘要 | 第一成形辊和第二成形辊彼此平行且相对地设置,双面成型片材通过该第一成形辊和第二成形辊形成。本发明设有:相位调节单元,其被构造为使第二成形辊沿着第二成形辊的轴向移动;上部成型形状探测器,其探测双面成型片材正面的成型形状;下部成型形状探测器,其探测双面成型片材背面的成型形状;正面/背面相差算术操作单元,其被构造成将上下部成型形状探测器的探测信号进行相互比较,计算双面成型片材正面和背面的成型形状之间的相对于轴向的成形相差,并输出表示成形相差的相差值信号;相位对齐控制处理单元,其被构造成接收相差值信号,并输出指令给相位调节单元从而可减少成形相差。 | ||
申请公布号 | CN1803445A | 申请公布日期 | 2006.07.19 |
申请号 | CN200610005704.3 | 申请日期 | 2006.01.06 |
申请人 | 东芝机械株式会社 | 发明人 | 水沼巧治;草乡敏彦 |
分类号 | B29C59/04(2006.01) | 主分类号 | B29C59/04(2006.01) |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 寇英杰 |
主权项 | 1.一种成形相位对齐装置,包括:第一成形辊;第二成形辊,其被构造为与第一成形辊一起形成双面成型片材,第二成形辊与第一成形辊平行且相对地设置;相位调节单元,其被构造成使第二成形辊沿着第二成形辊的轴向移动;上部成型形状探测器,其被构造成探测双面成型片材正面的成型形状;下部成型形状探测器,其被构造成探测双面成型片材背面的成型形状;正面/背面相差算术操作单元,其被构造成将下部成型形状探测器的探测信号与上部成型形状探测器的探测信号进行相互比较,计算双面成型片材正面的成型形状与双面成型片材背面的成型形状之间的相对于所述轴向的成形相差,并输出表示成形相差的相差值信号;和相位对齐控制处理单元,其被构造成接收相差值信号,并输出指令给相位调节单元,这样可减少成形相差。 | ||
地址 | 日本东京 |