用于利用寄存器组来测试半导体芯片的方法

摘要

本发明涉及用于测试半导体芯片、尤其是存储器芯片的方法，其中在要测试的具有测试逻辑单元的芯片中设置至少一个测试模式，在芯片中执行测试模式并从芯片中输出测试结果或测试模式的状态，该方法包括：提供具有n个不同寄存器组的芯片，每个寄存器组具有m个不同寄存器，且寄存器被分成各具有n个寄存器的m个寄存器群，每个寄存器群分别只具有一个寄存器组的单个寄存器，且能用m个报头唯一地标识m个寄存器群，n和m是大于或等于1的自然数；通过用m个第一位串填充m个寄存器群来对其编程，可将每个位串分别分配给n个测试模式的状态；为选择寄存器群和n个测试模式的状态，传输至少一个报头；利用串行第二位串读出测试结果或测试模式的状态。

主权项

1.用于测试半导体芯片、尤其是存储器芯片的方法，其中在要测试的并且具有测试逻辑单元的芯片中设置至少一个测试模式，在所述芯片中执行所述测试模式，并且从所述芯片中输出测试结果或者所述测试模式的状态，其特征在于，所述方法包括以下步骤：提供具有n个不同寄存器组的芯片，所述n个不同寄存器组中的每一个都具有m个不同寄存器，并且所述n个不同寄存器组的寄存器被分成分别具有n个寄存器的m个寄存器群，其中每个寄存器群分别只具有来自一个寄存器组的一个单个寄存器，并且能够利用m个报头唯一地标识所述m个寄存器群，其中n和m是大于或者等于1的自然数；通过用m个第一位串填充所述m个不同寄存器群来对所述m个不同寄存器群进行编程，其中能够将每个位串分别分配给n个测试模式的状态；为了选择寄存器群和所述n个测试模式的存储在所述寄存器群中的状态并且执行n个测试模式的存储在所选择的寄存器群中的状态，传输至少一个报头；利用串行第二位串读出测试结果或者所述测试模式的状态。