发明名称 | 非挥发性记忆体的制造方法 | ||
摘要 | 一种非挥发性记忆体的制造方法,首先提供一基底,并于此基底上依序形成第一介电层、电荷陷入层及第二介电层。于第二介电层上形成多个堆叠闸极结构,其中多个堆叠闸极结构各自包括第一闸极与顶盖层,且相邻两堆叠闸极结构之间具有一间隙。于第一闸极侧壁上形成氧化层,并移除未被堆叠闸极结构覆盖的第二介电层。于基底上形成第三介电层,并覆盖堆叠闸极结构。于基底上形成第二导体层。移除部分第二导体层,以于闸极结构之间的间隙中形成多个第二闸极,第二闸极与堆叠闸极结构构成记忆胞列。于记忆胞列两侧之基底中形成源极区及汲极区。 | ||
申请公布号 | TW200625551 | 申请公布日期 | 2006.07.16 |
申请号 | TW094100698 | 申请日期 | 2005.01.11 |
申请人 | 力晶半导体股份有限公司 | 发明人 | 毕嘉慧 |
分类号 | H01L21/8247 | 主分类号 | H01L21/8247 |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行一路12号 |