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发明名称
半导体基材及制造方法
摘要
本发明之内容系一种半导体基材,包括一单晶矽晶圆、一松弛、含有矽及锗之单晶层,该单晶层位于表面上,该层表面之锗含量为10%重量比至100%重量比,及一位于该表面下方、周期性配置空腔类之层。本发明之内容亦包括此种半导体基材之制造方法及由此种半导体基材产生之sSOI晶圆。
申请公布号
TW200625521
申请公布日期
2006.07.16
申请号
TW094139083
申请日期
2005.11.08
申请人
世创电子材料公司
发明人
德尔克.丹兹;安德瑞斯.胡贝尔;蓝因侯德.瓦利西;布兰恩.莫尔飞
分类号
H01L21/76
主分类号
H01L21/76
代理机构
代理人
甯育丰
主权项
地址
德国
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