| 摘要 |
本发明提供一种相对位置检测控制装置，其不仅易于防止错误动作，并可小体积且价廉地构成。为此，该装置具有可相对位移之第一及第二构件11、12，第一构件11上固定有产生检测用磁场之磁性体17，第二构件上固定有检测出检测用磁场之磁通密度而输出检测信号的检测部20，并具有检测出第一构件11及第二构件12之位移而依检测信号输出控制信号之控制部14，且检测部20在同一个检测用磁场内至少具有以与磁性体17非接触状态固定之第一及第二孔IC21、22，第一孔IC21可输出显示基准位置之检测信号，第二孔IC可输出对应于磁通密度之变化而变化之第二检测信号，控制部14在第一检测信号显示基准位置时，可输出对应于基准位置之控制信号，除此之外，则输出对应于第二检测信号之控制信号。 |
