发明名称 具有复合式衬垫之浅沟渠隔离元件的形成方法
摘要 本发明系揭露一种具有复合式衬垫之浅沟渠隔离元件的形成方法,其系在一半导体基底表面形成一垫氧化层与氮化矽罩幕层后,利用蚀刻技术形成浅沟渠,再于浅沟渠内表面依序沈积一氮化矽层及一原位蒸气产生(ISSG)氧化层,最后在浅沟渠中填满一层氧化物,以形成浅沟渠隔离元件。本发明之方法系可解决凹陷现象之问题,减少扭曲效应的产生,并藉此增进元件电性。
申请公布号 TW200625516 申请公布日期 2006.07.16
申请号 TW093140957 申请日期 2004.12.28
申请人 上海宏力半导体制造有限公司 GRACE SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CORPORATION 中国 发明人 江瑞星;马惠平
分类号 H01L21/76 主分类号 H01L21/76
代理机构 代理人 林火泉
主权项
地址 中国