发明名称 |
基于自支撑薄膜高高宽比深亚微米、纳米金属结构制作工艺 |
摘要 |
本发明一种基于自支撑薄膜高高宽比深亚微米、纳米金属结构制作工艺,属于半导体技术中的微细加工领域,其工艺步骤如下:1.在自支撑薄膜正面上淀积薄铬薄金;2.在薄铬薄金表面上甩电子束胶,电子束曝光、显影;3.将片子放在电镀液中第一次电镀金属;4.片子正面甩X射线光刻胶;5.从自支撑薄膜背面进行X射线曝光、显影;6.继续将片子放在电镀液中第二次电镀金属;7.去胶、去底铬底金,完成高高宽比深亚微米、纳米金属结构制。本发明采用一次正面电子束光刻,一次背面X射线自对准曝光,两次电镀获得高高宽比深亚微米、纳米金属结构,具有很强的实用价值,适合大批量生产。 |
申请公布号 |
CN1801458A |
申请公布日期 |
2006.07.12 |
申请号 |
CN200410101873.8 |
申请日期 |
2004.12.30 |
申请人 |
中国科学院微电子研究所 |
发明人 |
谢常青;叶甜春;陈大鹏 |
分类号 |
H01L21/027(2006.01);H01L21/00(2006.01);H01L21/3205(2006.01);G03F7/00(2006.01);B82B3/00(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/027(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
周国城 |
主权项 |
1、一种基于自支撑薄膜高高宽比深亚微米、纳米金属结构制作工艺,其特征在于,高高宽比深亚微米、纳米金属结构的形成是由常规的电子束光刻、电镀方法先在自支撑薄膜上获得低高宽比深亚微米、纳米金属结构,再在该金属结构上甩X射线光刻胶,从背面进行自对准X射线曝光,再继续电镀出高高宽比深亚微米、纳米金属结构,最后去胶、去薄铬铂金层,从而制成基于自支撑薄膜的高高宽比深亚微米、纳米金属结构。 |
地址 |
100029北京市朝阳区北土城西路3号 |