发明名称 氧化铜薄膜低摩擦材料及其成膜方法
摘要 本申请的发明涉及在成膜用基板上由等离子沉积形成以CuO为主的氧化铜薄膜,并可显著低地控制其摩擦系数。
申请公布号 CN1802449A 申请公布日期 2006.07.12
申请号 CN200480010869.9 申请日期 2004.04.23
申请人 独立行政法人物质·材料研究机构 发明人 后藤真宏;笠原章;大石哲雄;土佐正弘;吉原一纮
分类号 C23C14/08(2006.01);C23C14/34(2006.01) 主分类号 C23C14/08(2006.01)
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 王健
主权项 1.氧化铜薄膜低摩擦材料的成膜方法,其特征在于:在成膜用基板上,在真空减压下,由等离子沉积形成以CuO为主的氧化铜薄膜。
地址 日本茨城县