X射线衍射相分析样品架及分析方法

摘要

本发明属利用粒子辐射测试或分析材料，尤其涉及用于X射线衍射矿物(相)定性、定量分析。X射线衍射相分析样品架，由硅单晶片、基座框、载尘膜构成，硅单晶片置于基座框内，其特点是载尘膜粘贴在硅单晶片上；作为微量样品相分析的样品架及参照物；硅单晶片采用单衍射峰晶片，是由硅单晶棒沿单晶硅(111)晶面0°－12°切割成片，经研磨、抛光而成。还公开了利用该样品架进行微量样品相分析及吸收－衍射法定量相分析方法。其优点是：消除仪器、时间、测量参数对定量精度的影响；用标样与单晶硅(111)晶面的X射线衍射强度比值，制定定标曲线，测试数据准确可靠；简化操作，缩短测试时间，提高效率。

主权项

1、X射线衍射相分析样品架，由硅单晶片(1)、基座框(2)、载尘膜(3)构成，硅单晶片(1)置于基座(2)框内，其特征在于载尘膜(3)粘贴在硅单晶片(1)二；作为微量样品相分析的样品架及参照物；硅单晶片(1)采用单衍射峰晶片，是由硅单晶棒沿单晶硅(111)晶面0°-12°切割成片，经研磨、抛光而成。