发明名称 记忆卡之转接卡结构改良
摘要 本创作为有关于一种记忆卡之转接卡结构改良,该转接卡为具有座体,于座体内为具有容置空间,且座体为设有可罩覆容置空间之软性电路板,并于座体的一侧为开设有与容置空间相通连之开口,而可供记忆卡插入并置于容置空间内,俾当记忆卡由座体之开口插入容置空间内时,可藉由软性电路板的弹性压迫记忆卡,再者,软性电路板于相邻容置空间之一面上的适当位置处为设有导电层,而可与记忆卡之金手指呈电性接触,又软性电路板之另一面于接近侧边处为设有金手指,俾当转接卡插入记忆卡插槽后,可与记忆卡插槽呈电性导通。
申请公布号 TWM294146 申请公布日期 2006.07.11
申请号 TW094221399 申请日期 2005.12.08
申请人 立威科技股份有限公司 发明人 傅彦祯
分类号 H01R29/00;G06K19/067 主分类号 H01R29/00
代理机构 代理人 江明志 台北市大安区忠孝东路4段148号2楼之4;张朝坤 台北市大安区忠孝东路4段148号2楼之4
主权项 1.一种记忆卡之转接卡结构改良,尤指一种可供相 异尺寸的记忆卡对接于尺寸相异的记忆卡插槽之 转接卡,该转接卡为具有座体,于座体内为具有容 置空间,并于座体的一侧为开设有与容置空间相通 连之开口,其改良在于: 该座体为设有可罩覆容置空间之软性电路板,软性 电路板于相邻容置空间之一面上的适当位置处为 设有导电层,而软性电路板之另一面于接近侧边处 为设有金手指。 2.如申请专利范围第1项所述之记忆卡之转接卡结 构改良,其中该软性电路板可透过电镀产生导电层 与金手指。 3.如申请专利范围第1项所述之记忆卡之转接卡结 构改良,其中该导电层与金手指间呈电性连接。 4.如申请专利范围第1项所述之记忆卡之转接卡结 构改良,其中该软性电路板可为双层板、多层板、 单铜双做或晶粒软膜结合(Chip on Film,简称COF)。 5.如申请专利范围第1项所述之记忆卡之转接卡结 构改良,其中该软性电路板为具有适当之弹力而可 弹性抵持插入转接卡内之记忆卡。 6.一种记忆卡之转接卡结构改良,尤指一种可供相 异尺寸的记忆卡对接于尺寸相异的记忆卡插槽之 转接卡,该转接卡为具有座体,于座体内为具有容 置空间,并于座体的一侧为开设有与容置空间相通 连之开口,其改良在于: 该座体为设有可罩覆容置空间之软性电路板,软性 电路板于相邻容置空间之一面上的适当位置处为 延设有复数凸点,而于复数凸点上设有导电层,并 于软性电路板之另一面接近侧边处为设有金手指 。 7.如申请专利范围第6项所述之记忆卡之转接卡结 构改良,其中该软性电路板可透过电镀产生导电层 与金手指。 8.如申请专利范围第6项所述之记忆卡之转接卡结 构改良,其中该导电层与金手指间呈电性连接。 9.如申请专利范围第6项所述之记忆卡之转接卡结 构改良,其中该软性电路板可为双层板、多层板、 单铜双做或晶粒软膜结合(Chip on Film,简称COF)。 10.如申请专利范围第6项所述之记忆卡之转接卡结 构改良,其中该软性电路板为具有适当之弹力而可 弹性抵待插入转接卡内之记忆卡。 11.如申请专利范围第6项所述之记忆卡之转接卡结 构改良,其中该软性电路板与各凸点相邻之适当位 置处为设有破孔。 图式简单说明: 第一图 系为本创作较佳实施例之立体外观图。 第二图 系为本创作较佳实施例之立体分解图。 第三图 系为本创作较佳实施例之侧视剖面图图。 第四图 系为本创作较佳实施例于动作前之侧视剖 面图。 第五图 系为本创作较佳实施例于动作中之侧视剖 面图。 第六图 系为本创作较佳实施例于动作后之侧视剖 面图。 第七图 系为本创作再一较佳实施例之侧视剖面图 。 第七A图 系为本创作再一较佳实施例之局部放大 侧视剖面图。 第八图 系为本创作再一较佳实施例于插入记忆卡 之侧视剖面图。 第九图 系为习用之转接卡立体分解图。
地址 台北县汐止市新台五路1段75号6楼之2