Nondestructive testers utilizing highfrequency and low-frequency eddy currents to test for surface and subsurface defects,申请号US19630271640-传众专利搜索

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法人/股东/高管

发明名称	Nondestructive testers utilizing highfrequency and low-frequency eddy currents to test for surface and subsurface defects
摘要
申请公布号	US3340466(A)	申请公布日期	1967.09.05
申请号	US19630271640	申请日期	1963.04.09
申请人	HITACHI, LTD.	发明人	ONO KUNIO
分类号	G01N27/90	主分类号	G01N27/90
代理机构		代理人
主权项
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