发明名称 ANALYSIS METHOD FOR INSULATOR SAMPLE USING AUGER ELECTRON SPECTROSCOPE
摘要
申请公布号 KR20060079467(A) 申请公布日期 2006.07.06
申请号 KR20040117671 申请日期 2004.12.31
申请人 DONGBU ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 YOON, MYOUNG NO
分类号 G01N23/227 主分类号 G01N23/227
代理机构 代理人
主权项
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