发明名称 |
半导体元件的结构及其制造方法 |
摘要 |
一种半导体元件的制造方法,此方法是在一基底中形成沟渠,再在沟渠的侧壁形成绝缘间隙壁。接着,在沟渠中形成第一外延层,再在第一外延层中形成源极和漏极掺杂区。然后,在基底与第一外延层上形成第二外延层,再在第二外延层上形成栅极。其后,以栅极为掩模进行离子注入步骤,以在第二外延层中形成延伸掺杂区,再进行快速热退火步骤,以使源极和漏极掺杂区以及延伸掺杂区形成源极和漏极。 |
申请公布号 |
CN1263157C |
申请公布日期 |
2006.07.05 |
申请号 |
CN01144503.3 |
申请日期 |
2001.12.18 |
申请人 |
旺宏电子股份有限公司 |
发明人 |
詹光阳;刘慕义;范左鸿;叶彦宏;卢道政 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01);H01L21/336(2006.01) |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01) |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 |
代理人 |
王学强 |
主权项 |
1.一种半导体元件的结构,至少包括:一基底;一源极和漏极,设置于该基底之中;一栅极结构,设置于该源极和漏极之间的该基底上,并且延伸覆盖部分的该源极和漏极;一沟道区,设置于该栅极结构下方的该基底中,其特征在于:该结构还包括:一绝缘间隙壁,设置于该沟道区下方的该基底与该源极和漏极之间。 |
地址 |
台湾省新竹科学工业园区力行路16号 |