发明名称 半导体元件的结构及其制造方法
摘要 一种半导体元件的制造方法,此方法是在一基底中形成沟渠,再在沟渠的侧壁形成绝缘间隙壁。接着,在沟渠中形成第一外延层,再在第一外延层中形成源极和漏极掺杂区。然后,在基底与第一外延层上形成第二外延层,再在第二外延层上形成栅极。其后,以栅极为掩模进行离子注入步骤,以在第二外延层中形成延伸掺杂区,再进行快速热退火步骤,以使源极和漏极掺杂区以及延伸掺杂区形成源极和漏极。
申请公布号 CN1263157C 申请公布日期 2006.07.05
申请号 CN01144503.3 申请日期 2001.12.18
申请人 旺宏电子股份有限公司 发明人 詹光阳;刘慕义;范左鸿;叶彦宏;卢道政
分类号 H01L29/78(2006.01);H01L21/336(2006.01) 主分类号 H01L29/78(2006.01)
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人 王学强
主权项 1.一种半导体元件的结构,至少包括:一基底;一源极和漏极,设置于该基底之中;一栅极结构,设置于该源极和漏极之间的该基底上,并且延伸覆盖部分的该源极和漏极;一沟道区,设置于该栅极结构下方的该基底中,其特征在于:该结构还包括:一绝缘间隙壁,设置于该沟道区下方的该基底与该源极和漏极之间。
地址 台湾省新竹科学工业园区力行路16号