发明名称 |
像素结构的制造方法 |
摘要 |
一种像素结构的制造方法,包括下列步骤:首先,于基板上形成栅极,并于基板上形成栅绝缘层,且覆盖栅极。接着,于栅绝缘层上形成半导体层,且于半导体层上形成金属层。然后,于金属层上形成第一掩膜层,并以第一掩膜层为蚀刻掩膜,图案化金属层以形成源极/漏极。之后,于第一掩膜层上形成第二掩膜层,且第二掩膜层还覆盖住源极/漏极之间的区域。接着,以第一与第二掩膜层为蚀刻掩膜,图案化半导体层,且去除第一与第二掩膜层。之后,于基板上形成保护层,且于保护层上形成像素电极,其中像素电极与漏极电连接。 |
申请公布号 |
CN1797143A |
申请公布日期 |
2006.07.05 |
申请号 |
CN200410102706.5 |
申请日期 |
2004.12.28 |
申请人 |
中华映管股份有限公司 |
发明人 |
高金字;苏大荣;林富良 |
分类号 |
G02F1/136(2006.01);H01L21/00(2006.01);G03F7/20(2006.01) |
主分类号 |
G02F1/136(2006.01) |
代理机构 |
北京连和连知识产权代理有限公司 |
代理人 |
王永红 |
主权项 |
1.一种像素结构的制造方法,其特征是包括:于基板上形成栅极;于该基板上形成栅绝缘层,且覆盖该栅极;于该栅绝缘层上形成半导体层;于该半导体层上形成金属层;于该金属层上形成第一掩膜层;以该第一掩膜层为蚀刻掩膜,图案化该金属层以形成源极/漏极,并移除该半导体层之部分厚度;于该第一掩膜层上形成第二掩膜层,且该第二掩膜层还包括覆盖住该源极/漏极之间的区域;以该第一与该第二掩膜层为蚀刻掩膜,图案化该半导体层;去除该第一与该第二掩膜层;于该基板上形成保护层;以及于该保护层上形成像素电极,其中该像素电极与该漏极电连接。 |
地址 |
台湾省台北市中山北路3段22号 |