| 发明名称 | 实现数模混合型集成电路验证的方法及装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种实现数模混合型集成电路验证的方法及装置。本发明的核心是利用硬件测试过程中的输入数据作为软测试处理过程(即前仿真过程)的输入数据进行测试，从而快速定位ASIC设计的各个故障点，提高了ASIC验证的速度及准确性。因此，本发明提供了一种可以快速实现ASIC验证的方法及装置，从而有效地克服了现有技术所存在的验证过程耗时较长的问题，同时，极大降低了ASIC验证过程的复杂程度。 | ||
| 申请公布号 | CN1797411A | 申请公布日期 | 2006.07.05 |
| 申请号 | CN200410102840.5 | 申请日期 | 2004.12.28 |
| 申请人 | 北京六合万通微电子技术有限公司 | 发明人 | 曹占生;杨军;李庆华;寿国梁;吴南健 |
| 分类号 | G06F17/50(2006.01);G06F11/36(2006.01) | 主分类号 | G06F17/50(2006.01) |
| 代理机构 | 北京凯特来知识产权代理有限公司 | 代理人 | 郑立明 |
| 主权项 | 1、一种实现数模混合型集成电路验证的方法，其特征在于，包括：A、进行数模混合型集成电路的可编程逻辑门列阵FPGA验证过程，并保存该验证过程中的输入数据；B、将所述的输入数据作为数模混合型集成电路前仿真的处理过程中的激励数据进行前仿真处理；C、根据前仿真处理结果确定数模混合型集成电路的问题点。 | ||
| 地址 | 100085北京市海淀区上地信息路12号中关村发展大厦四层B401室 | ||