| 发明名称 | 用于获得增强的荧光检测能力的光学基片 | ||
| 摘要 | 一种样品基片，适于使用具有第一波长的荧光激励光。在基底上设置反射器。所述反射器包括具有至少两层的反射多层干涉涂层。并非所有层L都满足四分之一波条件：d<SUB>L</SUB>·n<SUB>L</SUB>＝(2N+1)·λ/4，其中d<SUB>L</SUB>为层L的物理厚度，n<SUB>L</SUB>为层L在第一波长下的折射率，N为等于或大于零的整数，λ为第一波长。层的厚度可保证设置在所述多层干涉涂层顶部的任何荧光样品材料都处于入射在所述基片上的具有第一波长的激励光所形成的驻波波腹附近。 | ||
| 申请公布号 | CN1798968A | 申请公布日期 | 2006.07.05 |
| 申请号 | CN200480015386.8 | 申请日期 | 2004.06.03 |
| 申请人 | 尤纳克西斯巴尔策斯公司 | 发明人 | J·克劳斯;J·埃德林格;M·韦基;H·托梅－费尔斯特;C·海涅－坎普肯斯;B·麦森赫尔德;M·卡斯帕 |
| 分类号 | G01N21/64(2006.01);G02B5/28(2006.01) | 主分类号 | G01N21/64(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 龚海军;王忠忠 |
| 主权项 | 1.一种样品基片，适于使用具有第一波长的荧光激励光，所述样品基片包括基底和反射器，所述反射器包括具有至少两层的反射多层干涉涂层，其中并非所有层L都满足四分之一波条件：dL·nL＝(2N+1)·λ/4，其中dL为层L的物理厚度，nL为层L在第一波长下的折射率，N为等于或大于零的整数，λ为第一波长，其中层的厚度保证设置在所述多层干涉涂层顶部的任何荧光样品材料都处于入射在所述基片上的具有第一波长的激励光所形成的驻波波腹附近。 | ||
| 地址 | 列支敦士登巴尔策斯 | ||