发明名称 |
利用颗粒标记物检测分析物 |
摘要 |
特异性检测样品中一或多种分析物的方法。该方法包括特异性将样品中的任意一或多种分析物与光散射可检测颗粒相连接,用光在一定条件下照射与光相连的分析物,条件是颗粒可以产生散射光并且可以用人眼在小于500倍的放大和没有电子放大的情况下检测到一或多个颗粒的散射光。该方法还包括作为对所述分析物存在的检测而在上述条件下检测所述任意颗粒的散射光。 |
申请公布号 |
CN1262667C |
申请公布日期 |
2006.07.05 |
申请号 |
CN97195868.8 |
申请日期 |
1997.04.17 |
申请人 |
詹尼康科学公司 |
发明人 |
J·伊格拉比德;E·E·伊格拉比德;D·E·克纳;J·T·杰克森 |
分类号 |
C12N15/87(2006.01);G03G5/00(2006.01) |
主分类号 |
C12N15/87(2006.01) |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
卢新华;罗才希 |
主权项 |
1.检测样品中的一种或多种分析物的方法,包括如下步骤:将所述样品中的任何一种或多种分析物与至少一种散射光可检测颗粒连接起来,其中所述颗粒的大小在1-500nm间;用不易消散的波光照射与所述一种或多种分析物连接的任何所述颗粒,以从所述颗粒产生散射光,其中,可在小于500倍放大并无电子放大的情况下肉眼检测到所述一种或多种颗粒散射的光;以及作为对所述一种或多种分析物存在的量度而检测任何所述一种或多种颗粒散射的光,其中(i)所述照射和所述检测位于所述样品表面的对面或(ii)所述检测与所述样品表面的垂线成一定角度,该角度小于所述样品总内部反射的临界角,且其中所述照射和所述检测进行布置以减少非特异性背景光,从而检测包含所述一种或多种分析物的样品散射的光。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |