发明名称 CALIBRATION APPARATUS AND METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE
摘要
申请公布号 KR20060078681(A) 申请公布日期 2006.07.05
申请号 KR20040116993 申请日期 2004.12.30
申请人 KOREA INSTITUTE OF MACHINERY & MATERIALS 发明人 LEE, HAK JOO;KIM, JAE HYUN;HUR, SHIN;HAN, SEUNG WOO;CHO, KI HO;AHN, HYUN GYUN;OH, CHUNG SEOG
分类号 G01Q40/00 主分类号 G01Q40/00
代理机构 代理人
主权项
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