发明名称 METHOD FOR ANALYSING STRUCTURE OF SPECIMEN USING SEMICONDUCTOR ANALYSIS APPARATUS
摘要
申请公布号 KR20060077840(A) 申请公布日期 2006.07.05
申请号 KR20040117815 申请日期 2004.12.31
申请人 DONGBU ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 KIM, SUN JU
分类号 H01L21/66;G01N1/28 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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