发明名称 Verfahren und Schaltungsanordnung zum Ermitteln der Impedanz eines Messobjekts, insbesondere bei Hochfrequenz
摘要
申请公布号 DE1260618(B) 申请公布日期 1968.02.08
申请号 DE1963S086895 申请日期 1963.08.26
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 SCHLUETER DIPL.-ING. KLAUS
分类号 G01R27/02 主分类号 G01R27/02
代理机构 代理人
主权项
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