发明名称 萤光X射线分析用试料保持具及利用此保持具之萤光X射线分析方法与装置SAMPLE RETAINER FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS, X-RAY FLUORESCENCE ANALYZING METHOD USING THE SAME AND X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER THEREFOR
摘要 本发明提供一种萤光X射线分析用试料保持具,其用以将液体试料施以前处理,藉以对其含有成分进行萤光X射线分析,系可以抑制背景杂讯(background)的同时,能均匀产生其强度为更大的萤光X射线,藉此能十份提高侦测极限。本发明系提供试料保持具5,其用以将液体试料1施以前处理后,将对其含有成分予以萤光X射线分析,此试料保持具5包含环状台座2,厚度为10μm以下的疏水性薄膜3,其包含固定于台座2之周边部3a以及令X射线透射之透射部3b,及厚度为1μm以上100μm以下之片状液体吸收材4,其系被贴附于疏水性薄膜3之透射部3b,将液体试料1滴注于前述液体吸收材4上而使其乾燥,以保持前述含有成分。
申请公布号 TW200622236 申请公布日期 2006.07.01
申请号 TW093141866 申请日期 2004.12.31
申请人 理学电机工业股份有限公司 发明人 森山孝男;井上未知子
分类号 G01N23/223 主分类号 G01N23/223
代理机构 代理人 周良谋;周良吉
主权项
地址 日本
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