发明名称 形成用于保护晶圆表面元件之保护盖之方法
摘要 本发明提供一种利用上覆金属层的非金属上盖基底制造保护盖的方法。根据本发明之方法,系利用一可重复使用的非金属上盖基底以及一覆于其上的金属层作为模型,进行元件保护盖之制造,亦即,系于金属层上形成复数个腔体后,于腔体中形成保护盖。本发明亦提供一种晶圆级封装方法,以将上述保护盖覆盖于晶圆表面的元件上,以保护晶圆表面的元件。
申请公布号 TWI257656 申请公布日期 2006.07.01
申请号 TW094126375 申请日期 2005.08.03
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 王维中
分类号 H01L21/02 主分类号 H01L21/02
代理机构 代理人 许锺迪 台北县永和市福和路389号5楼
主权项 1.一种形成用于保护晶圆表面元件之保护盖之方 法,包含有以下步骤: (a)提供一非金属上盖基底,并于该非金属上盖基底 上形成一金属层; (b)于该金属层之一表面形成复数个腔体,且各该腔 体之位置系分别对应该晶圆表面元件;以及 (c)分别于各该腔体中形成一保护盖,并于该等腔体 周围形成复数个接合媒介。 2.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该非金属 上盖基底系为一半导体基底。 3.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该等保护 盖为金属保护盖。 4.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该等接合 媒介为金属接合媒介。 5.如申请专利范围第1项所述之方法,其中步骤(c)包 含有: 于该金属层上形成一图案化遮罩层,且该图案化遮 罩层暴露出该等腔体及该等腔体周围; 进行至少一第一镀膜制程以于该等腔体及该等腔 体周围形成该等保护盖; 进行至少一第二镀膜制程以于该等腔体及该等腔 体周围形成该等接合媒介;以及 去除该图案化遮罩层。 6.如申请专利范围第1项所述之方法,其中步骤(c)包 含有: 于该金属层上形成一图案化遮罩层,且该图案化遮 罩层暴露出该等腔体; 进行至少一第一镀膜制程以于该等腔体形成该等 保护盖; 去除该图案化遮罩层; 于该金属层上形成另一图案化遮罩层,且该图案化 遮罩层暴露出等腔体周围; 进行至少一第二镀膜制程以于该等腔体周围形成 该等接合媒介;以及 去除该图案化遮罩层。 7.一种晶圆级封装(wafer level package)方法,包含有以 下步骤: (a)提供一元件基底,且该元件基底之一表面包含有 复数个元件; (b)提供一非金属上盖基底,并于该非金属上盖基底 上形成一金属层; (c)于该金属层之一表面形成复数个腔体,且各该腔 体之位置系分别对应该元件基底之各该元件; (d)以各该腔体为模型,分别于各该腔体内形成一保 护盖; (e)将该金属层之该等腔体对准该元件基底之该等 元件,并将该等保护盖接合于该元件基底上,以使 各该保护盖分别覆盖于各该元件;以及 (f)将该金属层自该等保护盖上移除。 8.如申请专利范围第7项所述之方法,其中该非金属 上盖基底系为一半导体基底。 9.如申请专利范围第7项所述之方法,其中于该非金 属上盖基底上形成该金属层系以一电镀制程形成 。 10.如申请专利范围第7项所述之方法,另包含于步 骤(f)前先进行一步骤(e1)将该非金属上盖基底自该 金属层上移除。 11.如申请专利范围第10项所述之方法,其中步骤(e1) 系利用一蚀刻制程移除该非金属上盖基底。 12.如申请专利范围第10项所述之方法,其中该非金 属上盖基底与该金属层间更包含一黏着层。 13.如申请专利范围第12项所述之方法,其中步骤(e1) 系利用移除该黏着层所达成。 14.如申请专利范围第12项所述之方法,其中该非金 属上盖基底系为一模具,且该非金属上盖基底上设 有复数个通孔。 15.如申请专利范围第14项所述之方法,其中步骤(e1) 包含有自该等通孔通入一脱膜剂移除该黏着层。 16.如申请专利范围第7项所述之方法,其中该等保 护盖系为金属保护盖。 17.如申请专利范围第7项所述之方法,其中该等元 件系为微机电元件。 18.如申请专利范围第7项所述之方法,其中步骤(d) 更包含有于该等保护盖周围形成接合媒介之步骤 。 19.如申请专利范围第18项所述之方法,其中步骤(d) 包含有: 于该金属层上形成一图案化遮罩层,且该图案化遮 罩层暴露出该等腔体以及该等腔体周围; 进行至少一第一镀膜制程以于该等腔体以及该等 腔体周围形成复数个保护盖;以及 进行至少一第二镀膜制程以于该等腔体以及该等 腔体周围形成该等接合媒介。 20.如申请专利范围第19项所述之方法,其中该金属 层包含有一第一金属,且该金属保护盖包含有一第 二金属,且该第一金属对该第二金属具有高蚀刻选 择比。 21.如申请专利范围第20项所述之方法,其中步骤(f) 系利用蚀刻该第一金属所达成。 22.如申请专利范围第20项所述之方法,其中该第一 金属为铜,且该第二金属为镍。 23.如申请专利范围第19项所述之方法,其中该等接 合媒介包含有一第三金属层以及一第四金属层互 相叠合。 24.如申请专利范围第23项所述之方法,其中该第三 金属为锡,且该第四金属为金。 25.如申请专利范围第7项所述之方法,其中该等保 护盖系为透光保护盖。 26.如申请专利范围第7项所述之方法,其中该等元 件为感光元件。 27.如申请专利范围第7项所述之方法,其中该元件 基底包含有复数个焊垫设于该元件基底之该表面, 且该等焊垫未为该等保护盖所覆盖。 图式简单说明: 第1至3图显示习知一晶圆级封装之方法。 第4至7图显示本发明一较佳实施例形成保护盖之 方法示意图。 第8至9图显示本发明另一较佳实施例制作保护盖 与接合媒介之方法示意图。 第10至12图为本发明另一较佳实施例之晶圆级封装 之方法示意图。 第13图为本发明另一较佳实施例移除非金属上盖 基底之示意图。
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