| 主权项 |
1.一种在烧机时系统不良之警示方法,系于烧机系 统当机时送出警示讯号并显示当机发生之时间,至 少包含下列步骤: 产生周期讯号:产生一周期时间长之一比较周期讯 号; 产生周期差讯号:产生与该比较周期讯号之周期时 间长相同,且相差一时间差之一比较周期差讯号; 计数:将一烧机测试工具测试周期完成后所产生之 一重置脉冲加以累加为一测试周期数; 计算周期数:计算该比较周期讯号时间内之该测试 周期数为一比较周期数; 计算差周期数:计算该比较周期差讯号时间内之该 测试周期数为一比较差周期数; 比较周期数:比较该比较周期数与该比较差周期数 ;及 当该比较周期数与该比较差周期数相同时,送出一 警示讯号。 2.如申请专利范围第1项之烧机时系统不良之警示 方法,该产生比较周期讯号步骤之该比较周期讯号 为十分钟一周期。 3.如申请专利范围第2项之烧机时系统不良之警示 方法,该产生比较周期讯号步骤之该比较周期讯号 为开始计时五分钟后产生第一次讯号,尔后十分钟 产生一讯号。 4.如申请专利范围第1项之烧机时系统不良之警示 方法,该产生比较周期差讯号步骤之该比较周期差 讯号为十分钟一周期。 5.如申请专利范围第4项之烧机时系统不良之警示 方法,该产生比较周期差讯号步骤之该比较周期讯 号为开始计时十分钟后产生第一次讯号,尔后十分 钟产生一讯号。 6.如申请专利范围第1项之烧机时系统不良之警示 方法,该比较周期讯号与该比较差周期讯号之该周 期时间长为十分钟。 7.如申请专利范围第1项之烧机时系统不良之警示 方法,该比较周期数系从开始计时至该比较周期讯 号产生后时间内之该测试周期数。 8.如申请专利范围第1项之烧机时系统不良之警示 方法,该比较周期数系从开始计时后五分钟内之该 测试周期数。 9.如申请专利范围第1项之烧机时系统不良之警示 方法,该比较差周期数系从开始计时至该比较差周 期讯号产生后时间内之该测试周期数。 10.如申请专利范围第1项之烧机时系统不良之警示 方法,该比较差周期数系从开始计时后十分钟内之 该测试周期数。 11.如申请专利范围第1项之烧机时系统不良之警示 方法,该比较周期数步骤系将第一次计算之该比较 周期数与第一次计算之该比较差周期数加以比较 。 12.如申请专利范围第11项之烧机时系统不良之警 示方法,该比较周期数步骤系在第一次比较后,每 隔该周期时间长再比较一次。 13.如申请专利范围第1项之烧机时系统不良之警示 方法,该警示讯号系为该比较周期数之値与该比较 差周期数之値相同时送出。 14.如申请专利范围第1项之烧机时系统不良之警示 方法,该警示讯号系由一蜂鸣器发出。 15.如申请专利范围第1项之烧机时系统不良之警示 方法,该警示讯号系由一发光二极体发出。 16.一种在烧机时系统不良之警示装置,至少包含: 一测试周期计数器,用以累加一烧机测试工具测试 周期完成后所产生之一重置脉冲为一测试周期数; 一比较周期产生电路,用以产生一比较周期讯号; 一比较周期差产生电路,用以产生一比较周期差讯 号; 一比较周期测试计数器,与该测试周期计数器、该 比较周期产生电路相连接,用以计算该比较周期讯 号产生之时间内之该测试周期数为一比较周期数; 一比较周期差测试计数器,与该测试周期技术器、 该比较差周期产生电路相连接,用以计算该比较周 期差讯号产生之时间内之该测试周期数为一比较 差周期数; 两个栓锁器,各别连接于该比较周期测试计数器与 该比较周期差测试计数器,用以栓锁该比较周期数 与该比较差周期数; 一比较器,与该两个栓锁器相连接,用以接收该比 较周期数与该比较差周期数并加以比较,当两者相 同时产生一比较讯号;及 一警示电路,与该比较器相连接,用以接收该比较 讯号并送出一警示讯号。 17.如申请专利范围第16项之烧机时系统不良之警 示装置,该比较周期讯号之周期时间长为十分钟。 18.如申请专利范围第17项之烧机时系统不良之警 示装置,该比较周期讯号为开始计时五分钟后产生 第一次讯号,尔后十分钟产生一讯号。 19.如申请专利范围第16项之烧机时系统不良之警 示装置,该比较周期差讯号之周期时间等于该比较 周期时间长。 20.如申请专利范围第19项之烧机时系统不良之警 示装置,该比较周期讯号为开始计时十分钟后产生 第一次讯号,尔后十分钟产生一讯号。 21.如申请专利范围第16项之烧机时系统不良之警 示装置,该比较器系将第一次经闩锁之该比较周期 数与第一次经闩锁之该比较差周期数加以比较,尔 后每隔该周期时间长比较一次。 22.如申请专利范围第16项之烧机时系统不良之警 示装置,该警示讯号系由一蜂鸣器产生。 23.如申请专利范围第16项之烧机时系统不良之警 示装置,该警示讯号系由一发光二极体产生。 图式简单说明: 第1图为本发明之烧机时系统不良的警示方法示意 图; 第2图为本发明之烧机时系统不良的警示装置之构 造图; 第3A-3B图为本发明之具体实施例之比较周期示意 图;及 第4图为本发明之具体实施例之电路图。 |
