发明名称 制造LCD用正型光阻组成物及光阻图型之形成方法POSITIVE PHOTORESIST COMPOSITION FOR PRODUCING LIQUID CRYSTAL DISPLAY AND METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN
摘要 本发明系揭示特征为,含有(A)含有将含3,4-二甲苯酚之苯酚类与醛类缩合反应合成而得的硷可溶性酚醛清漆树脂的硷可溶性树脂成分,(B)二叠氮酯化合物、(C)分子量1000以下之含苯酚性羟基化合物及(D)有机溶剂之制造LCD用正型光阻组成物及光阻图型之制造方法,因此即使低NA条件下也可得到良好解像度,又,低NA条件下可具有优良直线性,故应用于制造系统LCD用。
申请公布号 TWI257526 申请公布日期 2006.07.01
申请号 TW092134214 申请日期 2003.12.04
申请人 东京应化工业股份有限公司 发明人 片野彰;中山一彦;新仓聪;土井宏介
分类号 G03F7/022 主分类号 G03F7/022
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 1.一种制造LCD用正型光阻组成物,其特征为,含有 (A)含有将含3,4-二甲苯酚之苯酚类与醛类缩合反应 合成而得之苯酚与醛类之莫耳比为1:0.5~1:0.95之硷 可溶性酚醛清漆树脂的硷可溶性树脂成分, 相对于(A)成份与后述(C)成份之合计量为20~70质量% 之(B)二叠氮酯化物, 相对于(A)成份为10~70质量%之(C)分子量为1000以下之 含苯酚性羟基化合物, 使固体成份浓度为10~50质量%之(D)有机溶剂。 2.如申请专利范围第1项之正型光阻组成物,其特征 为,硷可溶性酚醛清漆树脂含有,使用含3,4-二甲苯 酚及m-甲酚之苯酚类合成而得的硷可溶性酚醛清 漆树脂。 3.如申请专利范围第2项之正型光阻组成物,其特征 为,硷可溶性酚醛清漆树脂系使用含3,4-二甲苯酚5 至30莫耳%、m-甲酚95至40莫耳%及其他苯酚类0至30莫 耳%之苯酚类合成而得的硷可溶性酚醛清漆树脂。 4.如申请专利范围第1项之正型光阻组成物,其特征 为,硷可溶性酚醛清漆树脂系使用含丙醛及甲醛之 醛类合成而得的硷可溶性酚醛清漆树脂。 5.如申请专利范围第1项之正型光阻组成物,其特征 为,(D)成分中丙二醇单烷基醚乙酸酯之含量为50至 100质量%。 6.如申请专利范围第1项之正型光阻组成物,其特征 为,(D)成分中2-庚酮之含量为50至100质量%。 7.如申请专利范围第1项之正型光阻组成物,其系使 用于i线曝光步骤。 8.如申请专利范围第1项之正型光阻组成物,其系使 用于NA为0.3以下之曝光步骤。 9.如申请专利范围第1项之正型光阻组成物,其系用 于制造于同一基板上形成集成回路及液晶显示部 分之LCD用。 10.一种光阻图型之形成方法,其特征为,含有 (1)将申请专利范围第1项之正型光阻组成物涂布于 基板上,而形成涂膜之步骤; (2)将形成涂膜之基板加热处理(prebake),而于基板上 形成光阻被膜之步骤; (3)对光阻被膜使用描绘2.0m以下光阻图型形成用 图罩图型,及超过2.0m光阻图型形成用图罩图型 双方之图罩进行选择性曝光的步骤; (4)对选择性曝光后之光阻被膜进行加热处理( postexposure bake)的步骤; (5)对加热处理后之光阻被膜使用硷水溶液进行显 像处理,而同时于基板上形成图型尺寸2.0m以下 之集成回路用光阻图型,及超过2.0m之液晶显示 部分用光阻图型的步骤; (6)洗除光阻图型表面残留之显像液的漂洗步骤。 11.如申请专利范围第10项之光阻图型形成方法,其 特征为,(3)选择性曝光之步骤系采用光线为i线之 曝光步骤进行。 12.如申请专利范围第10项之光阻图型形成方法,其 特征为,(3)选择性曝光之步骤系采用NA为0.3以下之 低NA条件下的曝光步骤进行。 图式简单说明: 图1为,评估低NA条件下直线性用,而将正型光阻组 成物涂布于玻璃基板上,烘烤乾燥及进行图型曝光 ,再利用具有缝涂布器之显像装置将显像液盛装于 基板端部X至Z之说明图。
地址 日本