| 主权项 |
1.一种电子元件之自动化测试系统,至少包括: 一主机板置柜,系为立式柜,于柜内选定处设有复 数测试用主机板; 二撷取装置,系进行电子元件取撷、插植及置放动 作之自动化机械装置,分别设置于主机板置柜两面 处; 一收纳区,系区分有已测区及未测区供集中置放电 子元件,并于选定处设有一整理装置; 一输送装置,系可将电子元件运输至主机板置柜处 ,并将主机板置柜之电子元件输出至收纳区之运送 装置,乃设于二撷取装置及收纳区之整理装置间; 一控管主机; 藉此,透过讯号连线使主机板置柜之试用主机板与 控管主机构成连线,以组成电子元件之自动化测试 系统。 2.如申请专利范围第1项所述电子元件之自动化测 试系统,其中,该主机板置柜包括于下方设有一暂 存区,该暂存区并区分为已测格区及未测格区,俾 供分别暂时置放已测及未测之电子元件。 3.如申请专利范围第1项或第2项所述电子元件之自 动化测试系统,其中,该主机板置柜包括设有数个 形成直立并排状,且各主机板置柜均各设有二撷取 装置。 4.如申请专利范围第1项所述电子元件之自动化测 试系统,其中,该撷取装置及整理装置系包括为轨 道式机械臂或肘式机械手臂,或其他可用自动化指 令控制之机械装置之其中一种。 5.如申请专利范围第1项所述电子元件之自动化测 试系统,其中,该输送装置包括设有一输入部及一 输出部,用以分别输送电子元件。 6.如申请专利范围第1项所述电子元件之自动化测 试系统,其中,该撷取装置、收纳区、整理装置及 输送装置系包括可透过讯号连线与该控管主机构 成连线。 7.一种电子元件之自动化测试方法,包括一设有复 数个测试用主机板之主机板置柜、二撷取装置设 于主机板置柜选定处、一集中电子元件之收纳区 、一设于主机板置柜及收纳区之间的输送装置,以 及一控管主机,并包括下列步骤: 植入电子元件:由一撷取装置取撷电子元件植设于 主机板置柜之测试用主机板; 测试:由该主机板置柜之测试用主机板与该电子元 件搭配进行测试; 主机控管:将测试数据资料传递于控管主机; 取出电子元件:由另一撷取装置取出测试完成之电 子元件,并依测试结果分级存放。 8.如申请专利范围第7项所述电子元件之自动化测 试方法,其中,该植入电子元件步骤前包括有输入 电子元件步骤;该输入电子元件步骤,系藉以该输 送装置将收纳区之电子元件输送至主机板置柜处, 供该撷取装置取撷测试。 9.如申请专利范围第7项所述电子元件之自动化测 试方法,其中,该取出电子元件步骤后包括有输出 电子元件步骤;该输出电子元件步骤,系藉以该输 送装置将电子元件输送至收纳区处以集中存放。 图式简单说明: 第一图为本发明自动化测试系统架构之上视图。 第二图为本发明主机板置柜之一面视图。 第三图为本发明主机板置柜之另一面视图。 第四图为本发明自动化测试系统之测试程序示意 图。 |
