电子元件处理装置与不良端子判断方法

摘要

预先储存成为基准之电子元件的各端子之基准位置资讯，利用摄影装置拍摄搬运装置所保持部之被测试电子元件的端子，并从所拍摄之被测试电子元件的端子之影像资料取得各端子的位置资讯，从该成为基准之电子元件的各端子之基准置置资讯和该所取得之被测试电子元件的各端子之位置资讯的比较，判断在被测试电子元件之端子的欠缺及／或配设位置不良。