发明名称 调整类比数位转换器之取样条件的方法及相关装置
摘要 一种取样条件调整方法,用来决定一类比数位转换器之取样时脉讯号,其包含有:对一类比输入讯号进行一类比数位转换,以产生一包含有复数个取样点之数位取样讯号;计算该数位取样讯号中二相邻取样点间之差异值;比较该差异值与一临界值;若该差异值大于该临界值,则将该差异值累计入一差异累计值之中;以及依据该差异累计值产生该类比数位转换器之取样时脉讯号。
申请公布号 TWI257804 申请公布日期 2006.07.01
申请号 TW094100504 申请日期 2005.01.07
申请人 瑞昱半导体股份有限公司 发明人 龚金盛;郭郁斌;周裕彬;朱宏仁
分类号 H04N1/40;H03M1/12 主分类号 H04N1/40
代理机构 代理人 许锺迪 台北县永和市福和路389号5楼
主权项 1.一种显示控制装置,其包含有: 一类比数置转换模组,用来接收一类比输入讯号, 以依据一取样时脉产生一包含有复数个取样点之 数位取样讯号; 一运算模组,耦接于该类比数位转换模组,用来比 较该数位取样讯号中二相邻取样点间之差异値与 一临界値,并于该差异値大于该临界値时,将该差 异値累计至一差异累计値之中;以及 一取样时脉产生模组,耦接于该类比数位转换模组 及该运算模组,用来依据该运算模组所计算出来之 差异累计値,产生该取样时脉。 2.如申请专利范围第1项所述之显示控制装置,其中 该运算模组另比较一第一临界値与三相邻取样点 中一目前取样点与一前一取样点间之一第一差异 値,以及比较一第二临界値与该三相邻取样点中该 前一取样点与一再前一取样点间之一第二差异値, 并依据该些比较之结果,选择性地将该第一或第二 差异値累计至该差异累计値之中。 3.如申请专利范围第1项所述之显示控制装置,其中 该取样时脉产生模组系依据该运算模组所计算出 来之差异累计値,从复数个取样相位当中选取其一 以产生该取样时脉。 4.如申请专利范围第1项所述之显示控制装置,其中 该取样时脉产生模组系依据该运算模组所计算出 来之差异累计値,从复数个取样频率当中选取其一 以产生该取样时脉。 5.如申请专利范围第1项所述之显示控制装置,其另 包含有一后级电路,用来接收该数位取样讯号,以 进行影像处理,并产生传送至一显示面板之驱动讯 号。 6.如申请专利范围第1项所述之显示控制装置,其系 为一LCD显示器控制晶片。 7.如申请专利范围第1项所述之显示控制装置,其系 为一数位电视控制晶片。 8.一种类比数位转换装置,其包含有: 一类比数位转换模组,用来接收一类比输入讯号, 以依据一取样时脉产生一包含有复数个取样点之 数位取样讯号; 一运算模组,耦接于该类比数位转换模组,用来比 较该数位取样讯号中二相邻取样点间之差异値与 一临界値,并于该差异値大于该临界値时,将该差 异値累计入一差异累计値之中;以及 一取样时脉产生模组,耦接于该类比数位转换模组 及该运算模组,用来依据该运算模组所计算出来之 差异累计値,产生该取样时脉。 9.如申请专利范围第8项所述之类比数位转换装置, 其中该运算模组另比较一第一临界値与三相邻取 样点中一目前取样点与一前一取样点间之一第一 差异値,以及比较一第二临界値与该三相邻取样点 中该前一取样点与一再前一取样点间之一第二差 异値,并依据该些比较之结果,选择性地将该第一 或第二差异値累计至该差异累计値之中。 10.如申请专利范围第8项所述之类比数位转换装置 ,其中该取样时脉产生模组系依据该运算模组所计 算出来之差异累计値,从复数个取样相位当中选取 其一以产生该取样时脉。 11.如申请专利范围第8项所述之类比数位转换装置 ,其中该取样时脉产生模组系依据该运算模组所计 算出来之差异累计値,从复数个取样频率当中选取 其一以产生该取样时脉。 12.如申请专利范围第8项所述之类比数位转换装置 ,其系设置于一LCD显示器控制晶片之中。 13.如申请专利范围第8项所述之类比数位转换装置 ,其系设置于一数位电视控制晶片之中。 14.一种取样条件调整方法,用来决定一类比数位转 换器之取样时脉讯号,其包含有: 对一类比输入讯号进行一类比数位转换,以产生一 包含有复数个取样点之数位取样讯号; 计算该数位取样讯号中二相邻取样点间之差异値; 比较该差异値与一临界値; 若该差异値大于该临界値,则将该差异値累计入一 差异累计値之中;以及 依据该差异累计値产生该类比数位转换器之取样 时脉讯号。 15.如申请专利范围第14项所述之取样条件调整方 法,其另包含有: 比较一第一临界値与三相邻取样点中一目前取样 点与一前一取样点间之一第一差异値; 比较一第二临界値与该三相邻取样点中该前一取 样点与一再前一取样点间之一第二差异値;以及 依据该些比较之结果,选择性地将该第一或第二差 异値累计至该差异累计値之中。 16.如申请专利范围第14项所述之取样条件调整方 法,其另包含有: 依据该差异累计値,从复数个取样相位当中选取其 一以产生该类比数位转换器之取样时脉讯号。 17.如申请专利范围第14项所述之取样条件调整方 法,其另包含有: 依据该差异累计値,从复数个取样频率当中选取其 一以产生该类比数位转换器之取样时脉讯号。 18.如申请专利范围第14项所述之取样条件调整方 法,其系使用于一LCD显示器控制晶片。 19.如申请专利范围第14项所述之取样条件调整方 法,其系使用于一数位电视控制晶片。 图式简单说明: 第1图为依据本发明一实施例所揭露之显示控制器 的示意图。 第2图为依据本发明一实施例所揭露之调整类比数 位转换器之取样条件的流程图。 第3图为ADC于不同取样相位的,情形下对一类比讯 号进行取样的示意图。 第4图为依据本发明另一实施例所揭露之调整类比 数位转换器之取样条件的流程图。
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