发明名称 金属研磨组成物、金属膜之研磨方法及基板之制法
摘要 金属研磨组成物包含金属膜研磨时使用的在金属膜表面上聚合且在金属膜表面上形成聚合膜的成膜性化合物。使上述金属膜研磨时,使用上述金属研磨组成物以将上述金属膜研磨且使平坦化。而且,基板之制法包含藉由上述金属膜之研磨方法,将填充在具有凹部之基板上而覆盖该凹部的金属膜研磨以使平坦化之步骤。藉由此等组成物及研磨方法时,可防止凹陷(dishing)情形且可提高平坦性,可提高金属膜、特别是铜膜之研磨速度,可在低压下高速研磨,以及由于可防止金属膜受伤、故可提高处理性。
申请公布号 TWI257421 申请公布日期 2006.07.01
申请号 TW092130039 申请日期 2003.10.29
申请人 昭和电工股份有限公司 发明人 佐藤孝志;西冈绫子;鱼谷信夫
分类号 C09K3/14;C09G1/02 主分类号 C09K3/14
代理机构 代理人 何金涂 台北市大安区敦化南路2段77号8楼;何秋远 台北市大安区敦化南路2段77号8楼
主权项 1.一种金属研磨组成物,其系用于研磨金属膜,其包 含:与金属膜所含的金属、该金属之氧化物或该金 属之离子中任何一种反应形成不溶性错合物之错 合物形成化合物,以及在金属膜表面上聚合以在金 属膜表面上形成聚合膜之成膜性化合物。 2.如申请专利范围第1项之金属研磨组成物,其中成 膜性化合物系为以一种以上金属膜所含的金属、 该金属之氧化物、该金属之离子作为触媒予以聚 合者。 3.如申请专利范围第1项之金属研磨组成物,其中成 膜性化合物系为至少一种选自于苯酚化合物、芳 香族二胺化合物。 4.如申请专利范围第3项之金属研磨组成物,其中苯 酚化合物系为具有2个以上酚性羟基之化合物。 5.如申请专利范围第4项之金属研磨组成物,其中具 有2个以上酚性羟基之化合物系为至少一种选自于 儿茶酚、焦儿茶酚、蒜酸、丹宁酸、聚苯酚。 6.如申请专利范围第5项之金属研磨组成物,其中聚 苯酚为丹宁。 7.如申请专利范围第1项之金属研磨组成物,其中金 属研磨组成物更含有氧化剂,且聚合为氧化聚合。 8.如申请专利范围第3项之金属研磨组成物,其中氧 化剂为至少一种选自于氧、臭氧、过氧化氢、过 硫酸铵。 9.如申请专利范围第1项之金属研磨组成物,其更包 含有机酸及/或胺基酸。 10.如申请专利范围第1项之金属研磨组成物,其中 错合物形成化合物为唑类。 11.如申请专利范围第10项之金属研磨组成物,其中 唑类为苯并三唑。 12.如申请专利范围第1项之金属研磨组成物,其更 含有研磨粒。 13.如申请专利范围第12项之金属研磨组成物,其中 研磨粒系由至少一种选自于二氧化矽、氧化铝、 二氧化铈、有机研磨粒所成。 14.如申请专利范围第1项之金属研磨组成物,其系 用于研磨填充在具有凹部之基板上而覆盖该凹部 的金属膜。 15.如申请专利范围第14项之金属膜研磨用金属研 磨组成物,其中在具有凹部之基板上形成有障壁金 属膜。 16.如申请专利范围第1项之金属研磨组成物,其中 金属膜中所含的金属为铜或含铜之合金。 17.如申请专利范围第15项之金属膜研磨用金属研 磨组成物其中障壁金属膜由钽系金属所成。 18.一种金属研磨方法,其系使金属膜平坦化的研磨 方法,特征在于: (a)使用如申请专利范围第1-17项中任一项之研磨组 成物, (b)与金属膜所含的金属、该金属之氧化物或该金 属之离子中任何一种形成不溶性错合物,及 (c)于金属膜表面上聚合,以在金属表面上形成聚合 膜,而予以作研磨。 19.一种基板之制法,其系将金属膜研磨以使平坦化 的基板之制法,该金属膜系形成在具有凹部的基板 上且以覆盖上述凹部的方式来填充,其特征在于: (a)藉由如申请专利范围第18项之研磨方法, (b)与金属膜所含的金属、该金属之氧化物或该金 属之离子中任何一种形成不溶性错合物,及 (c)于金属膜表面上聚合,以在金属表面上形成聚合 膜,藉由研磨以使上述金属膜平坦化。
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