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发明名称 System-on-chip having built-in self test circuits and self test method of the same
摘要
申请公布号 KR100594257(B1) 申请公布日期 2006.06.30
申请号 KR20040012991 申请日期 2004.02.26
申请人 发明人
分类号 G01R31/28;H01L21/66;G06F11/00;H01L21/822;H01L27/04 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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