| 发明名称 |
Device and method for testing unpackaged semiconductor die |
| 摘要 |
An apparatus and method for testing singulated unpackaged semiconductor die.
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| 申请公布号 |
US2006139045(A1) |
申请公布日期 |
2006.06.29 |
| 申请号 |
US20050321971 |
申请日期 |
2005.12.29 |
| 申请人 |
GALLAGHER WESLEY;SHEREDY DENNIS M;DARLING ROY A |
发明人 |
GALLAGHER WESLEY;SHEREDY DENNIS M.;DARLING ROY A. |
| 分类号 |
G01R31/02 |
主分类号 |
G01R31/02 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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