| 发明名称 | 一种半导体测试用的检测卡 | ||
| 摘要 | 本发明揭示一种半导体测试用的检测卡，其包含一电路板、设置于该电路板表面的一支撑物、至少一探针，其以一粘着物固定在该支撑物上、设置在该电路板上的至少一流动线路、及固设于该电路板上的一盖子。本发明通过将一流体，如加压的空气或氮气，导入流动线路中，形成流动回路将热量带入或带出检测卡以达成调节温度功能。 | ||
| 申请公布号 | CN1261993C | 申请公布日期 | 2006.06.28 |
| 申请号 | CN03109153.9 | 申请日期 | 2003.04.03 |
| 申请人 | 思达科技股份有限公司 | 发明人 | 刘俊良;徐梅淑 |
| 分类号 | H01L21/66(2006.01);G01R31/26(2006.01);G01R31/28(2006.01) | 主分类号 | H01L21/66(2006.01) |
| 代理机构 | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人 | 戈泊;程伟 |
| 主权项 | 1.一种半导体测试用的检测卡，其特征在于：包含：一电路板；一支撑物，设置于所述电路板表面；至少一探针，固定于所述支撑物上；及至少一气体流动线路，设置在所述电路板上，其中气体可经由该气体流动线路吹向该侦测卡，以保持该侦测卡的温度处于其材料本身所能承受的范围内。 | ||
| 地址 | 台湾省新竹县 | ||