| 发明名称 | 基于表面质量控制光学指取设备的光源 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种方法，用于控制光学指取设备的光源，该方法包括生成质量数据，该质量数据代表正由光学指取设备成像的成像表面的表面质量。该方法包括基于所生成的质量数据来控制所述光源。 | ||
| 申请公布号 | CN1794154A | 申请公布日期 | 2006.06.28 |
| 申请号 | CN200510132650.2 | 申请日期 | 2005.12.20 |
| 申请人 | 安捷伦科技有限公司 | 发明人 | 弗朗西斯·岭辰·吴 |
| 分类号 | G06F3/038(2006.01) | 主分类号 | G06F3/038(2006.01) |
| 代理机构 | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 王怡 |
| 主权项 | 1.一种用于控制光学指取设备的光源的方法，所述方法包括：生成质量数据，该质量数据代表正由所述光学指取设备成像的成像表面的表面质量；以及基于所生成的质量数据来控制所述光源。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚州 | ||