发明名称 |
具有第一和第二X射线装置的X射线设备 |
摘要 |
本发明涉及一种具有两个X射线装置(1,2)的X射线设备,它们各具有X射线源(3,5)和X射线检测器(4,6)。X射线装置(1,2)可绕公共旋转轴(7)偏转,对象(8)可设置在该偏转轴的区域内。X射线检测器(4,6)和X射线源(3,5)关于旋转轴(7)相对设置。它们构成为平面检测器(4,6),从而可以借助它们在第一和第二透视平面(9,10)内采集对对象(8)的透视射线。透视平面(9,10)包含旋转轴(7)并垂直于X射线源(3,5)与X射线检测器(4,6)的连接线(11,12)延伸。透视平面(9,10)的面积不同。在对应地定位X射线装置(1,2)时第一透视平面(9)完全覆盖第二透视平面(10)。 |
申请公布号 |
CN1794898A |
申请公布日期 |
2006.06.28 |
申请号 |
CN200510022927.6 |
申请日期 |
2005.12.22 |
申请人 |
西门子公司 |
发明人 |
克劳斯·汉比切恩;克劳斯·克林根贝克-雷根 |
分类号 |
H05G1/00(2006.01);A61B6/00(2006.01);G01N23/00(2006.01) |
主分类号 |
H05G1/00(2006.01) |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
邵亚丽;李晓舒 |
主权项 |
1.一种具有第一和第二X射线装置(1,2)的X射线设备,其中-该第一X射线装置(1)具有第一X射线源(3)和第一X射线检测器(4),-该第二X射线装置(2)具有第二X射线源(5)和第二X射线检测器(6),-这些X射线装置(1,2)可以绕公共旋转轴(7)偏转,对象(8)可设置在该偏转轴的区域内,-X射线检测器(4,6)和X射线源(3,5)关于旋转轴(7)相对设置,-X射线检测器(4,6)构成为平面检测器,从而可以借助第一X射线检测器(4)在第一透视平面(9)内采集对对象(8)的透视射线,借助第二X射线检测器(6)在第二透视平面(10)内采集对对象(8)的透视射线,-透视平面(9,10)包含旋转轴(7)并垂直于第一X射线源(3)与第一X射线检测器(4)的连接线(11)或第二X射线源(5)与第二X射线检测器(6)的连接线(12)延伸,-该X射线装置(1,2)这样构成,使得第二透视平面(10)的面积小于第一透视平面(9)的面积,以及在对应地定位这些X射线装置(1,2)时使该第一透视平面(9)完全覆盖第二透视平面(10)。 |
地址 |
德国慕尼黑 |