首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 APPARATUS FOR MANUFACTURING A TEST PIECE FOR ANALYZING A SEMICONDUCTOR WAFER AND METHOD THEROF
摘要
申请公布号 KR20060073143(A) 申请公布日期 2006.06.28
申请号 KR20040112011 申请日期 2004.12.24
申请人 DONGBU ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 EOM, JIN MIN
分类号 H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com