发明名称 |
通用串行总线物理层收发器嵌入式自我测试的方法及装置 |
摘要 |
本发明提供一种通用串行总线物理层收发器进行嵌入式自我测试的方法和测试装置。所述方法包括:所述物理层收发器输出内部的数据采集时钟给所述测试向量产生单元;所述测试向量产生单元基于该采集时钟,产生测试向量;所述测试向量产生单元将测试向量输入物理层收发器。采用本发明,可以消除物理层收发器嵌入式自我测试中存在的异步时序问题,降低调试难度,物理层收发器嵌入式自我测试测试向量的复杂程度,提高覆盖率,能够减少物理层收发器嵌入式自我测试所占用的测试管脚,使得物理层收发器嵌入式自我测试能够和其他测试组合起来,减少测试时间。 |
申请公布号 |
CN1794671A |
申请公布日期 |
2006.06.28 |
申请号 |
CN200510132774.0 |
申请日期 |
2005.12.26 |
申请人 |
北京中星微电子有限公司 |
发明人 |
张浩;李国新;陈志华;李晓强;腰健勋 |
分类号 |
H04L12/26(2006.01) |
主分类号 |
H04L12/26(2006.01) |
代理机构 |
北京北翔知识产权代理有限公司 |
代理人 |
陈霁 |
主权项 |
1.一种通用串行总线物理层收发器进行嵌入式自我测试的方法,所述方法包括:所述物理层收发器输出内部的数据采集时钟给测试向量产生单元;所述测试向量产生单元基于该采集时钟,产生测试向量;所述测试向量产生单元将测试向量输入物理层收发器。 |
地址 |
100083北京市海淀区学院路35号世宁大厦15层 |