发明名称 WAFER BURN-IN TEST METHOD OF NOR FLASH MEMORY DEVICE
摘要
申请公布号 KR20060070710(A) 申请公布日期 2006.06.26
申请号 KR20040109285 申请日期 2004.12.21
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 MOON, BYUNG SOO;KIM, YANG GI;KANG, KI SANG;KIM, HOON JUNG;NAM, JUNG HYUN;CHO, MI YEON
分类号 G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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