发明名称 System for measuring a property of a dielectric material by periodically applying signals at different frequencies to a capacitance probe
摘要
申请公布号 US3255412(A) 申请公布日期 1966.06.07
申请号 US19620174917 申请日期 1962.02.24
申请人 INDUSTRIAL NUCLEONICS CORPORATION 发明人 LIU KO-HSIN
分类号 G01N27/22 主分类号 G01N27/22
代理机构 代理人
主权项
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