METHOD OF MAKING TEM SAMPLE USING FIB,申请号KR20040117807-传众专利搜索

发明名称	METHOD OF MAKING TEM SAMPLE USING FIB
摘要
申请公布号	KR100595136(B1)	申请公布日期	2006.06.22
申请号	KR20040117807	申请日期	2004.12.31
申请人	DONGBU ELECTRONICS CO., LTD.	发明人	YOON, MYOUNGNO
分类号	H01L21/66;G01N1/28	主分类号	H01L21/66
代理机构		代理人
主权项
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