| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Authentizitätsprüfung von Waren umfassend die Kennzeichnung und Identifikation der Waren, bei dem man (i) in einem Kennzeichnungsschritt auf der Oberfläche der Ware eine Markierung in Form eines Musters mit einer Musterfunktion M(x, y) aufbringt, wobei durch die Markierung eine lokale Änderung der physikalisch messbaren Eigenschaften der Oberfläche der Ware im Bereich der Markierung hervorgerufen wird, und wobei die Markierung mit dem Auge nicht wahrnehmbar ist, (ii) in einem Identifikationsschritt die Transmission, Reflexion oder Streuung von Analysestrahlung durch die Oberfläche der Ware in Abhängigkeit der Ortskoordinaten (x, y) und der Wellenlänge ? der Analysestrahlung detektiert und so eine Antwortfunktion A(x, y, ?) bestimmt, welche die Intensität der transmittierten, reflektierten oder gestreuten Analysestrahlung in Abhängigkeit von den Ortskoordinaten (x, y) und der Wellenlänge ? wiedergibt, und durch Korrelationsanalyse die Korrelation der Antwortfunktion A(x, y, ?) mit der bekannten Musterfunktion M(x, y) bestimmt, wobei die Markierung durch die Korrelation nachgewiesen wird.</p> |
