发明名称 一卡带载体、一光学侦测器及侦测卡带导杆之对准及∕或缺少之光学侦测方法及电脑记录媒体
摘要 一光源扫描开孔,以侦测一卡带开孔中导杆之对准及/或缺少。侦测逻辑分析侦测所得反射光波形讯号与卡带导杆之一圆筒表面反射光是否有偏离,诸如椭圆形或圆锥形,代表导杆之偏角失准。再者,导杆之两端亦被扫描其位移差异与振幅差异,位移差异代表在扫描方向之偏角失准,而振幅差异代表一端或另一端可能已被拉至卡带中。两者皆低振幅则代表导杆之缺少。
申请公布号 TWI257090 申请公布日期 2006.06.21
申请号 TW092120357 申请日期 2003.07.25
申请人 万国商业机器公司 发明人 那恩.克莉丝塔 依莉莎白;泰勒.马克 艾伦
分类号 G11B3/00 主分类号 G11B3/00
代理机构 代理人 蔡玉玲 台北市大安区敦化南路2段218号5楼A区
主权项 1.一种光学侦测器,用以侦测一卡带(tape cartridge)之 一开孔中一卡带导杆之对准,该卡带导杆具有至少 一曝露之圆筒表面,该光学侦测器包含: 至少一光源,用以在当该卡带相对该至少一光源移 动时,扫描该卡带之开孔之至少一部分; 至少一光学侦测器,以侦测该至少一光源自该卡带 之开孔之反射光(reflections),并提供该侦测所得反 射光(detected reflections)之至少一侦测所得反射光波 形讯号;以及 侦测逻辑,以接收该至少一侦测所得反射光波形讯 号,该侦测逻辑: 分析该至少一侦测所得反射光波形讯号与该卡带 导杆之一圆筒表面反射光是否有偏离(deviation);以 及 假如有,则由该至少一侦测所得反射光波形讯号之 该分析所得偏离,决定该至少一曝露之圆筒表面是 否有偏角失准(tilt angle misalignment)。 2.如申请专利范围第1项之光学侦测器,其中该至少 一光源为固定式(stationary),且其中该侦测逻辑于该 卡带之开孔之至少一部分移经该至少一光源时运 转该至少一光源。 3.如申请专利范围第1项之光学侦测器,其中该侦测 逻辑更分析该至少一侦测所得反射光波形讯号与 一圆筒表面反射光之偏离,于该偏角实质上与该扫 描之方向同向时,该偏离包含一较宽之波形讯号, 代表一椭圆形表面反射光,以及于该偏角实质上与 该扫描之方向垂直时,该偏离包含一较窄且振幅较 低之波形讯号,代表一圆锥形表面反射光。 4.如申请专利范围第1项之光学侦测器,更用以侦测 一卡带之该开孔中一卡带导杆之缺少,该侦测逻辑 更: 分析该至少一侦测所得反射光波形讯号与该卡带 导杆之一圆筒表面反射光是否有振幅偏离;以及 假如有,则由该至少一侦测所得反射光波形讯号之 该分析所得振幅偏离,决定该卡带之开孔之至少一 部份中之该至少一曝露圆筒表面是否缺少。 5.一种光学侦测器,用以侦测一卡带之一开孔中一 卡带导杆之对准,该卡带导杆具有顶部及底部之曝 露圆筒表面,该光学侦测器包含: 至少一光源,用以在当该卡带相对该至少一光源移 动时,扫描该卡带之开孔之顶部及底部; 至少一光学侦测器,用以扫描该开孔之顶部及底部 ,以分别侦测该至少一光源自该开孔顶部及底部之 反射光,并提供该侦测所得反射光之侦测所得反射 光波形讯号;以及 侦测逻辑,以接收该侦测所得反射光波形讯号,该 侦测逻辑: 分析分别得自该开孔顶部及底部之该侦测所得反 射光波形讯号,比较该侦测所得反射光波形讯号, 以知该卡带导杆之顶部及底部曝露圆筒表面之圆 筒表面反射光是否有位移(displacement)差异与振幅 差异;以及 假如有,则由该侦测所得反射光波形讯号之该分析 所得差异,决定该卡带导杆是否有偏角失准。 6.如申请专利范围第5项之光学侦测器,其中该至少 一光源为固定式,且该卡带之开孔之该顶部及底部 移经该固定式至少一光源;且该侦测逻辑分析该分 别得自该开孔顶部及底部之该侦测所得反射光波 形讯号,比较该侦测所得反射光波形讯号之相对时 序,以知该卡带导杆之顶部及底部曝露圆筒表面之 该圆筒表面反射光是否有位移差异。 7.如申请专利范围第5项之光学侦测器,更用以侦测 一卡带之该开孔中导杆之缺少,该侦测逻辑更: 分析该侦测所得反射光波形讯号与该卡带导杆之 顶部及底部曝露圆筒表面之圆筒表面反射光是否 有振幅偏离;以及 假如有,则由该侦测所得反射光波形讯号之该分析 所得振幅偏离,决定该卡带之开孔之顶部及/或底 部之该曝露圆筒表面是否缺少。 8.一种光学侦测器,用以侦测一卡带之一开孔中一 卡带导杆之对准,该卡带导杆具有顶部及底部之曝 露圆筒表面,该光学侦测器包含: 至少一光源,用以在当该卡带相对该至少一光源移 动时,扫描该卡带之开孔之顶部及底部; 至少一光学侦测器,用以扫描该开孔之顶部及底部 ,以分别侦测该至少一光源自该卡带之开孔之顶部 及底部之反射光,并提供该侦测所得反射光之侦测 所得反射光波形讯号;以及 侦测逻辑,以接收该侦测所得反射光波形讯号,该 侦测逻辑: 分析该侦测所得反射光波形讯号与该卡带导杆之 一圆筒表面反射光是否有偏离; 分析分别得自该开孔之顶部及底部之该侦测所得 反射光波形讯号,比较该侦测所得反射光波形讯号 ,以知该卡带导杆之顶部及底部曝露圆筒表面之圆 筒表面反射光是否有位移差异与振幅差异;以及 假如有,则由该侦测所得反射光波形讯号之该分析 所得偏离,以及,由该侦测所得反射光波形讯号之 该分析所得差异,决定该卡带导杆是否有偏角失准 。 9.如申请专利范围第8项之光学侦测器,其中关于该 侦测逻辑,无论经由该分析所得偏离,及经由该分 析所得差异,而决定该卡带导杆之偏角失准,该侦 测逻辑指示该卡带导杆之偏角失准。 10.如申请专利范围第8项之光学侦测器,其中该至 少一光源为固定式,且该卡带之开孔之顶部及底部 移经该固定式至少一光源;且该侦测逻辑分析分别 得自该开孔之顶部及底部之该侦测所得反射光波 形讯号,比较该侦测所得反射光波形讯号之相对时 序,以知该卡带导杆之顶部及底部曝露圆筒表面之 该圆筒表面反射光是否有位移差异。 11.如申请专利范围第8项之光学侦测器,其中该光 学侦测器更分析该侦测所得反射光波形讯号与一 圆筒表面反射光之偏离,于该偏角实质上与该扫描 之方向同向时,该偏离包含一较宽之波形讯号,代 表一椭圆形表面反射光,以及于该偏角实质上与该 扫描之方向垂直时,该偏离包含一较窄且振幅较低 之波形讯号,代表一圆锥形表面反射光。 12.一种光学侦测器,用以侦测一卡带的一开孔中一 卡带导杆之至少一端之缺少,该卡带导杆具有顶部 及底部之曝露圆筒表面,该光学侦测器包含: 至少一光源,用以在当该卡带相对该至少一光源移 动时,扫描该卡带之开孔之顶部及底部; 至少一光学侦测器,用以扫描该开孔之顶部及底部 ,以分别侦测该至少一光源自该卡带之开孔顶部及 底部之反射光,并提供该侦测所得反射光之侦测所 得反射光波形讯号;以及 侦测逻辑,以接收该侦测所得反射光波形讯号,该 侦测逻辑: 分析该侦测所得反射光波形讯号与该卡带导杆之 顶部及底部曝露圆筒表面之圆筒表面反射光是否 有振幅偏离;以及 假如有,则由该侦测所得反射光波形讯号之该分析 所得振幅偏离,决定该卡带之开孔之顶部及/或底 部之该曝露圆筒表面是否缺少。 13.一种卡带载体(cartridge loader),用以接触(access)一 资料储存卡带之一开孔中之一导杆,以自该资料储 存卡带松脱卡带,该卡带导杆具有至少一曝露圆筒 表面,该卡带载体包含: 一导杆支架(block),以啮合该资料储存卡带之开孔 中之一对准之该导杆; 至少一光源,用以在当该卡带相对该至少一光源移 动时,扫描该卡带之开孔之至少一部分; 至少一光学侦测器,以侦测该至少一光源自该卡带 之开孔之反射光,并提供至少一该侦测所得反射光 之侦测所得反射光波形讯号;以及 侦测逻辑,以接收该至少一侦测所得反射光波形讯 号,该侦测逻辑: 分析该至少一侦测所得反射光波形讯号与该卡带 导杆之一圆筒表面反射光是否偏离;以及 假如有,则由该至少一侦测所得反射光波形讯号之 该分析所得偏离,决定该至少一曝露之圆筒表面是 否有偏角失准;以及 依该偏角失准之决定结果而停止运转该导杆支架( block)啮合该卡带导杆。 14.如申请专利范围第13项之卡带载体,其中该至少 一光源为固定式;其中该卡带载体更包含一载体, 用以移动该资料储存卡带使得该卡带之开孔移经 该至少一光源;其中该卡带载体更包含一装载感应 器,其提供一讯号指示该资料储存卡带正被装载; 且其中该侦测逻辑会对该装载感应器讯号回应以 在该装载感应器讯号之后运转该至少一光源一预 定时间,使得当该载体将该卡带之开孔之至少一部 分移经该至少一光源时,该至少一光源运转。 15.如申请专利范围第13项之卡带载体,其中该侦测 逻辑更分析该至少一侦测所得波形讯号与一圆筒 表面反射光之偏离,于该偏角实质上与该扫描之方 向同向时,该偏离包含一较宽之波形讯号,代表一 椭圆形表面反射光,以及于该偏角实质上与该扫描 之方向垂直时,该偏离包含一较窄且振幅较低之波 形讯号,代表一圆锥形表面反射光。 16.如申请专利范围第13项之卡带载体,其中该侦测 逻辑更: 分析该至少一侦测所得反射光波形讯号与该卡带 导杆之圆筒表面反射光是否有振幅偏离; 假如有,则由该至少一侦测所得反射光波形讯号之 该分析所得振幅偏离,决定该资料储存卡带之开孔 之至少一部份中之该至少一曝露圆筒表面是否缺 少;以及 依该至少一曝露圆筒表面之缺少决定结果而停止 运转该导杆支架(block)啮合该卡带导杆。 17.一种卡带载体,用以接触一资料储存卡带之一开 孔中之一导杆以自该资料储存卡带松脱卡带,该卡 带导杆具有顶部及底部曝露圆筒表面,该卡带载体 包含: 一导杆支架(block)以啮合该资料储存卡带之开孔中 之一对准之该导杆; 至少一光源,用以在当该卡带相对该光源移动时, 扫描该卡带之开孔之顶部及底部; 至少一光学侦测器,用以扫描该卡带之开孔之顶部 及底部,以分别侦测该至少一光源自该卡带之开孔 顶部及底部之反射光,并提供该侦测所得反射光之 侦测所得反射光波形讯号;以及 侦测逻辑以接收该侦测所得反射光波形讯号,该侦 测逻辑: 分析分别得自该开孔顶部及底部之该侦测所得反 射光波形讯号,比较该侦测所得反射光波形讯号, 以知该卡带导杆之顶部及底部曝露圆筒表面之圆 筒表面反射光是否有位移差异与振幅差异; 假如有,则由该侦测所得反射光波形讯号之该分析 所得差异,决定该卡带导杆之偏角失准;以及 依该偏角失准之决定结果而停止运转该导杆支架( block)啮合该卡带导杆。 18.如申请专利范围第17项之卡带载体,其中该至少 一光源为固定式;其中该卡带载体更包含一载体, 用以移动该资料储存卡带,使得该卡带之开孔移经 该至少一光源;其中该卡带载体更包含一装载感应 器,其提供一讯号指示该资料储存卡带正被装载; 且其中该侦测逻辑会对该装载感应器讯号回应以 在该装载感应器讯号之后运转该至少一光源一预 定时间,使得当该载体将该卡带之开孔之顶部及底 部移经该至少一光源时,该至少一光源运转;且其 中该侦测逻辑分析该分别得自该开孔顶部及底部 之该侦测所得反射光波形讯号,比较该侦测所得反 射光波形讯号之相对时序,以知该卡带导杆之顶部 及底部曝露圆筒表面之该圆筒表面反射光是否有 位移差异。 19.如申请专利范围第17项之卡带载体,其中该侦测 逻辑更: 分析该侦测所得反射光波形讯号与该卡带导杆之 顶部及底部曝露圆筒表面之圆筒表面反射光是否 有振幅偏离;以及 假如有,则由该侦测所得反射光波形讯号之该分析 所得振幅偏离,决定该卡带之开孔之顶部及/或底 部之该曝露圆筒表面是否缺少;以及 依该至少一曝露圆筒表面之缺少之决定结果而停 止运转该导杆支架(block)啮合该卡带导杆。 20.一种卡带载体,用以接触一资料储存卡带之一开 孔中之一导杆以自该资料储存卡带松脱卡带,该卡 带导杆具有顶部及底部曝露圆筒表面,该卡带载体 包含: 一导杆支架(block)以啮合该资料储存卡带之开孔中 之一对准之该导杆; 至少一光源,用以在当该卡带相对该至少一光源移 动时,扫描该卡带之开孔之顶部及底部; 至少一光学侦测器,用以扫描该开孔之顶部及底部 ,以分别侦测该至少一光源自该卡带之开孔顶部及 底部之反射光,并提供该侦测所得反射光之侦测所 得反射光波形讯号;以及 侦测逻辑以接收该侦测所得反射光波形讯号,该侦 测逻辑: 分析该侦测所得反射光波形讯号与该卡带导杆之 一圆筒表面反射光是否偏离; 分析分别得自该开孔顶部及底部之该侦测所得反 射光波形讯号,比较该侦测所得反射光波形讯号, 以知该卡带导杆之顶部及底部曝露圆筒表面之圆 筒表面反射光是否有位移差异与振幅差异; 假如有,则由该侦测所得反射光波形讯号之该分析 所得偏离,以及,由该侦测所得反射光波形讯号之 该分析所得差异,决定该卡带导杆之偏角失准;以 及 依该偏角失准之决定结果而停止运转该导杆支架 啮合该卡带导杆。 21.如申请专利范围第20项之卡带载体,其中,关于该 侦测逻辑,无论经由该分析所得偏离,及经由该分 析所得差异,而决定该卡带导杆之偏角失准,该侦 测逻辑指示该卡带导杆之偏角失准。 22.如申请专利范围第20项之卡带载体,其中该至少 一光源为固定式;其中该卡带载体更包含一载体用 以移动该资料储存卡带使得该卡带之开孔移经该 至少一光源;其中该卡带载体更包含一装载感应器 ,其提供一讯号指示该资料储存卡带正被装载;且 其中该侦测逻辑会对该装载感应器讯号回应以在 该装载感应器讯号之后运转该至少一光源一预定 时间,使得当该载体将该卡带之开孔之顶部及底部 移经该至少一光源时,该至少一光源运转;且其中 该侦测逻辑分析该分别得自该开孔顶部及底部之 该侦测所得反射光波形讯号,比较该侦测所得反射 光波形讯号之相对时序,以知该卡带导杆之顶部及 底部曝露圆筒表面之该圆筒表面反射光是否有位 移差异。 23.如申请专利范围第20项之卡带载体,其中该侦测 逻辑更分析该侦测所得反射光波形讯号与一圆筒 表面反射光之偏离,于该偏角实质上与该扫描之方 向同向时,该偏离包含一较宽之波形讯号,代表一 椭圆形表面反射光,以及于该偏角实质上与该扫描 之方向垂直时,该偏离包含一较窄且振幅较低之波 形讯号,代表一圆锥形表面反射光。 24.一种卡带载体,用以接触一资料储存卡带之一开 孔中之一导杆,以自该资料储存卡带松脱卡带,该 卡带导杆具有顶部及底部曝露圆筒表面,该卡带载 体包含: 一导杆支架(block)以啮合该资料储存卡带之开孔中 之一对准之该导杆; 至少一光源,用以在当该卡带相对该光源移动时, 扫描该卡带之开孔之顶部及底部; 至少一光学侦测器,用以扫描该开孔之顶部及底部 ,以分别侦测该至少一光源自该卡带之开孔顶部及 底部之反射光,并提供该侦测所得反射光之侦测所 得反射光波形讯号;以及 侦测逻辑以接收该侦测所得反射光波形讯号,该侦 测逻辑: 分析该侦测所得反射光波形讯号与该卡带导杆之 顶部及底部曝露圆筒表面之圆筒表面反射光是否 有振幅偏离; 假如有,则由该侦测所得反射光波形讯号之该分析 所得振幅偏离,决定该卡带之开孔之顶部及/或底 部之该曝露圆筒表面是否缺少;以及 依该曝露圆筒表面之至少一之缺少之决定结果而 停止运转该导杆支架(block)啮合该卡带导杆。 25.一种用以侦测一卡带之一开孔中一卡带导杆之 对准之方法,该卡带导杆具有至少一曝露圆筒表面 ,该方法包含下列步骤: 以至少一光源扫描该卡带之开孔之至少一部份; 侦测该至少一光源自该卡带之开孔之反射光,并提 供该侦测所得反射光之至少一侦测所得反射光波 形讯号; 分析该至少一侦测所得反射光波形讯号与该卡带 导杆之一圆筒表面反射光是否偏离;以及 假如有,则由该至少一侦测所得反射光波形讯号之 该分析所得偏离,决定该至少一曝露之圆筒表面是 否有偏角失准。 26.如申请专利范围第25项之方法,其中该至少一光 源为固定式,且该扫描步骤包含于该卡带移动时运 转该至少一光源,使得该卡带之开孔之至少一部分 移经该至少一光源。 27.如申请专利范围第25项之方法,其中该分析步骤 更包含分析该至少一侦测所得波形讯号与一圆筒 表面反射光之偏离,于该偏角实质上与该扫描步骤 之方向同向时,该偏离包含一较宽之波形讯号,代 表一椭圆形表面反射光,以及于该偏角实质上与该 扫描步骤之方向垂直时,该偏离包含一较窄且振幅 较低之波形讯号,代表一圆锥形表面反射光。 28.如申请专利范围第25项之方法,更用以侦测一卡 带之该开孔中一卡带导杆之缺少,包含下列附加步 骤: 分析该至少一侦测所得反射光波形讯号与该卡带 导杆之圆筒表面反射光是否有振幅偏离;以及 假如有,则由该至少一侦测所得反射光波形讯号之 该分析所得振幅偏离,决定该卡带之开孔之至少一 部份中之该至少一曝露圆筒表面之缺少。 29.一种用以侦测一卡带之一开孔中一卡带导杆之 对准之方法,该卡带导杆具有顶部及底部曝露圆筒 表面,该方法包含下列步骤: 以至少一光源扫描该卡带之开孔之顶部及底部; 分别侦测该至少一光源自该卡带之开孔之顶部及 底部之反射光,并提供该侦测所得反射光之侦测所 得反射光波形讯号; 分析分别得自该开孔之顶部及底部之该侦测所得 反射光波形讯号,比较该侦测所得反射光波形讯号 ,以知该卡带导杆之顶部及底部曝露圆筒表面之圆 筒表面反射光是否有位移差异与振幅差异;以及 假如有,则由该侦测所得反射光波形讯号之该分析 所得差异,决定该卡带导杆是否有偏角失准。 30.如申请专利范围第29项之方法,其中该至少一光 源为固定式,且该扫描步骤包含于该卡带移动时运 转该至少一光源,使得该卡带之开孔之顶部及底部 移经该至少一光源;且该分析步骤包含比较该侦测 所得反射光波形讯号之相对时序,以知该卡带导杆 之顶部及底部曝露圆筒表面之该圆筒表面反射光 是否有位移差异。 31.如申请专利范围第29项之方法,更用以侦测一卡 带之该开孔中该卡带导杆之缺少,包含下列附加步 骤: 分析该侦测所得反射光波形讯号与该卡带导杆之 顶部及底部曝露圆筒表面之圆筒表面反射光是否 有振幅偏离;以及 假如有,则由该侦测所得反射光波形讯号之该分析 所得振幅偏离,决定该卡带之开孔之顶部及/或底 部中之该曝露圆筒表面是否缺少。 32.一种用以侦测一卡带之一开孔中一卡带导杆之 对准之方法,该卡带导杆具有顶部及底部曝露圆筒 表面,该方法包含下列步骤: 以至少一光源扫描该卡带之开孔之顶部及底部; 分别侦测该至少一光源自该卡带之开孔顶部及底 部之反射光,并提供该侦测所得反射光之侦测所得 反射光波形讯号; 分析该侦测所得反射光波形讯号与该卡带导杆之 一圆筒表面反射光是否偏离; 分析分别得自该开孔顶部及底部之该侦测所得反 射光波形讯号,比较该侦测所得反射光波形讯号, 以知该卡带导杆之顶部及底部曝露圆筒表面之圆 筒表面反射光是否有位移差异与振幅差异;以及 假如有,则由该侦测所得反射光波形讯号之该分析 所得偏离,以及由该侦测所得反射光波形讯号之该 分析所得差异,决定该卡带导杆是否有偏角失准。 33.如申请专利范围第32项之方法,其中,无论经由该 分析所得偏离之该决定,及经由该分析所得差异之 该决定,而决定该卡带导杆之偏角失准,该决定步 骤指示该卡带导杆之偏角失准。 34.如申请专利范围第32项之方法,其中该至少一光 源为固定式;该扫描步骤包含于该卡带移动时运转 该至少一光源,使得该卡带之开孔之顶部及底部移 经该至少一光源;且该差异分析步骤包含比较该侦 测所得反射光波形讯号之相对时序,以知该卡带导 杆之顶部及底部曝露圆筒表面之该圆筒表面反射 光是否有位移差异。 35.如申请专利范围第32项之方法,其中该偏离分析 步骤更包含分析该侦测所得反射光波形讯号与一 圆筒表面反射光之偏离,于该偏角实质上与该扫描 步骤之方向同向时,该偏离包含一较宽之波形讯号 ,代表一椭圆形表面反射光,以及于该偏角实质上 与该扫描步骤之方向垂直时,该偏离包含一较窄且 振幅较低之波形讯号,代表一圆锥形表面反射光。 36.一种用以侦测一卡带之一开孔中一卡带导杆之 至少一端之缺少之方法,该卡带导杆具有顶部及底 部曝露圆筒表面,该方法包含下列步骤: 以至少一光源扫描该卡带之开孔之顶部及底部; 分别侦测该至少一光源自该卡带之开孔顶部及底 部之反射光,并提供该侦测所得反射光之侦测所得 反射光波形讯号; 分析该侦测所得反射光波形讯号与该卡带导杆之 顶部及底部曝露圆筒表面之圆筒表面反射光是否 有振幅偏离;以及 假如有,则由该侦测所得反射光波形讯号之该分析 所得振幅偏离,决定该卡带之开孔之顶部及/或底 部之该曝露圆筒表面是否缺少。 37.一种电脑记录媒体,其系与具有电脑可读程式码 之一可程式电脑搭配使用,供藉由至少一光源扫描 一卡带之一开孔之至少一部分,以及藉由侦测该至 少一光源自该卡带之开孔之反射光,而侦测该卡带 之开孔中一卡带导杆之对准,其中该卡带导杆具有 至少一曝露圆筒表面,并提供该侦测所得反射光之 至少一侦测所得反射光波形讯号,该电脑记录媒体 包含: 电脑可读程式码,使得一电脑处理器分析该至少一 侦测所得反射光波形讯号与该卡带导杆之一圆筒 表面反射光是否偏离;以及 电脑可读程式码,使得一电脑处理器由该至少一侦 测所得反射光波形讯号之该分析所得偏离,决定该 至少一曝露圆筒表面是否有偏角失准。 38.如申请专利范围第37项之电脑记录媒体,其更包 含电脑可读程式码,使得一电脑处理器分析该至少 一侦测所得反射光波形讯号与一圆筒表面反射光 之偏离,于该偏角实质上与该扫描之方向同向时, 该偏离包含一较宽之波形讯号,代表一椭圆形表面 反射光,以及于该偏角实质上与该扫描之方向垂直 时,该偏离包含一较窄且振幅较低之波形讯号,代 表一圆锥形表面反射光。 39.如申请专利范围第37项之电脑记录媒体,其更用 以侦测一卡带之该开孔中一导杆之缺少,更包含: 电脑可读程式码,使得一电脑处理器分析该至少一 侦测所得反射光波形讯号与该卡带导杆之该圆筒 表面反射光是否有振幅偏离;以及 电脑可读程式码,使得一电脑处理器由该至少一侦 测所得反射光波形讯号之该分析所得振幅偏离,决 定该卡带之开孔之至少一部份中之该至少一曝露 圆筒表面是否缺少。 40.一种电脑记录媒体,其系与具有电脑可读程式码 之一可程式电脑搭配使用,供藉由至少一光源扫描 一卡带之一开孔之顶部及底部,并藉由分别侦测该 至少一光源自该卡带之开孔之顶部及底部之反射 光,而侦测该卡带之开孔中一卡带导杆之对准,该 卡带导杆具有顶部及底部之曝露圆筒表面,并提供 该侦测所得反射光之侦测所得反射光波形讯号,该 电脑记录媒体包含: 电脑可读程式码,使得一电脑处理器分析分别得自 该开孔顶部及底部之该侦测所得反射光波形讯号, 比较该侦测所得反射光波形讯号,以知该卡带导杆 之顶部及底部曝露圆筒表面之圆筒表面反射光是 否有位移差异与振幅差异;以及 电脑可读程式码,使得一电脑处理器由该侦测所得 反射光波形讯号之该分析所得差异,决定该卡带导 杆是否有偏角失准。 41.如申请专利范围第40项之电脑记录媒体,其中当 该卡带移动时该至少一光源会运转,使得该卡带之 开孔之该顶部及底部移经该至少一光源;且该电脑 记录媒体更包含: 电脑可读程式码,使得一电脑处理器分析该分别得 自该开孔顶部及底部之该侦测所得反射光波形讯 号,比较该侦测所得反射光波形讯号之相对时序, 以知该卡带导杆之顶部及底部曝露圆筒表面之该 圆筒表面反射光是否有位移差异。 42.如申请专利范围第40项之电脑记录媒体,更用以 侦测一卡带之该开孔中该导杆之缺少,其更包含: 电脑可读程式码,使得一电脑处理器分析该侦测所 得反射光波形讯号与该卡带导杆之顶部及底部曝 露圆筒表面之圆筒表面反射光是否有振幅偏离;以 及 电脑可读程式码,使得一电脑处理器由该侦测所得 反射光波形讯号之该分析所得振幅偏离,决定该卡 带之开孔之顶部及/或底部之该曝露圆筒表面是否 缺少。 43.一种电脑记录媒体,其系与具有电脑可读程式码 之一可程式电脑搭配使用,供藉由至少一光源扫描 一卡带之一开孔之顶部及底部,并藉由分别侦测该 至少一光源自该卡带之开孔顶部及底部之反射光, 而侦测该卡带之开孔中一卡带导杆之对准,该卡带 导杆具有顶部及底部之曝露圆筒表面,并提供该侦 测所得反射光之侦测所得反射光波形讯号,该电脑 记录媒体包含: 电脑可读程式码,使得一电脑处理器分析该侦测所 得反射光波形讯号与该卡带导杆之一圆筒表面反 射光是否偏离; 电脑可读程式码,使得一电脑处理器分析分别得自 该开孔顶部及底部之该侦测所得反射光波形讯号, 比较该侦测所得反射光波形讯号,以知该卡带导杆 之顶部及底部曝露圆筒表面之圆筒表面反射光是 否有位移差异与振幅差异;以及 电脑可读程式码,使得一电脑处理器由该侦测所得 反射光波形讯号之该分析所得偏离,以及,由该侦 测所得反射光波形讯号之该分析所得差异,决定该 卡带导杆是否有偏角失准。 44.如申请专利范围第43项之电脑记录媒体,其更包 含电脑可读程式码,使得一电脑处理器经由该分析 所得偏离之该决定,或经由该分析所得差异之该决 定,而决定该卡带导杆之偏角失准,该电脑可读程 式码使得一电脑处理器指示该卡带导杆之偏角失 准。 45.如申请专利范围第43项之电脑记录媒体,其中当 该卡带移动时该至少一光源被运转,使得该卡带之 开孔之该顶部及底部移经该至少一光源;且该电脑 记录媒体更包含: 电脑可读程式码,使得一电脑处理器分析该分别得 自该开孔顶部及底部之该侦测所得反射光波形讯 号,比较该侦测所得反射光波形讯号之相对时序, 以知该卡带导杆之顶部及底部曝露圆筒表面之该 圆筒表面反射光是否有位移差异。 46.如申请专利范围第43项之电脑记录媒体,其更包 含电脑可读程式码,使得一电脑处理器分析该侦测 所得反射光波形讯号与一圆筒表面反射光之偏离, 于该偏角实质上与该扫描之方向同向时,该偏离包 含一较宽之波形讯号,代表一椭圆形表面反射光, 以及于该偏角实质上与该扫描之方向垂直时,该偏 离包含一较窄且振幅较低之波形讯号,代表一圆锥 形表面反射光。 47.一种电脑记录媒体,其系与具有电脑可读程式码 之一可程式电脑搭配使用,系藉由至少一光源扫描 一卡带之一开孔之顶部及底部,并藉由分别侦测该 至少一光源自该卡带之开孔之顶部及底部之反射 光,而侦测该卡带之开孔中一卡带导杆之至少一端 之缺少,该卡带导杆具有顶部及底部之曝露圆筒表 面,并提供该侦测所得反射光之侦测所得反射光波 形讯号,该电脑记录媒体包含: 电脑可读程式码,使得一电脑处理器分析该侦测所 得反射光波形讯号与该卡带导杆之顶部及底部曝 露圆筒表面之圆筒表面反射光是否有振幅偏离;以 及 电脑可读程式码,使得一电脑处理器由该侦测所得 反射光波形讯号之该分析所得振幅偏离,决定该卡 带之开孔之顶部及/或底部之该曝露圆筒表面是否 缺少。 图式简单说明: 图1为附接于卡带之导杆之侧视图,其对准系藉由 本发明侦测; 图2为图1之导杆与卡带于资料储存卡带匣中之剖 面图; 图3为根据本发明之一项具体实施例中用以扫描图 2之卡带匣开孔之内建光源与光学侦测器之等尺寸 图式; 图4为资料储存槽与卡带匣载体及图3之光源与光 学侦测器之侧视图; 图5为图4之资料储存槽与卡带匣载体之图表说明; 图6为一项具体实施例之方块图,其系关于根据本 发明中用以侦测图1之卡带导杆之对准及/或缺少 之侦测器; 图7为图6之侦测器于图1之卡带导杆对准时,其未经 滤波之侦测所得反射光波形讯号之图表说明; 图8为图6之侦测器于图1之卡带匣开孔中缺少卡带 导杆时,其未经滤波之侦测所得反射光波形讯号之 图表说明; 图9为图6之侦测器于图1之卡带导杆向扫描方向失 准时,其经滤波之侦测所得反射光波形讯号之图表 说明; 图10为图6之侦测器于图1之卡带导杆向扫描之垂直 方向失准时,其经滤波之侦测所得反射光波形讯号 之图表说明; 图11为图6之侦测器于图1之卡带导杆分别向扫描方 向对准、失准,及垂直失准时,其经滤波之侦测所 得反射光波形讯号之图表说明; 图12为根据本发明之电脑实行方法之一项具体实 施例之流程图。
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