发明名称 DYNAMIC THRESHOLD VOLTAGE MOS AND NON-VOLATILE MEMORY STRUCTURE FOR 2-BITS CELL OPERATION WITH ASYMMETRICAL GATE DIELECTRIC THICKNESS AND DUAL GATE WORK FUNCTION AND ITS MANUFACTURING
摘要
申请公布号 KR20060068038(A) 申请公布日期 2006.06.21
申请号 KR20040105961 申请日期 2004.12.15
申请人 KOREA ADVANCED INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY 发明人 LEE, HYUN JIN;CHOI, YANG KYU
分类号 H01L21/336 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人
主权项
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