发明名称 WORD LINE DRIVING CIRCUIT WITH IMPROVED TEST SIGNAL PATH AND SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE WITH THE SAME
摘要
申请公布号 KR20060068909(A) 申请公布日期 2006.06.21
申请号 KR20040107851 申请日期 2004.12.17
申请人 HYNIX SEMICONDUCTOR INC. 发明人 KANG, YONG GU
分类号 G11C8/08 主分类号 G11C8/08
代理机构 代理人
主权项
地址