磁性薄膜材料面内单轴各向异性测试方法

摘要

本发明公开一种磁性材料的测试技术。本发明的方法是：外加直流磁场中放置被测样品薄膜，使被测样品薄膜平面与外磁场方向平行，并且使被测样品薄膜可绕与其平面相垂直的轴转动，测试时，首先使被测薄膜样品磁饱和，然后再使外磁场大小介于饱和场和矫顽力场之间，并保持这一外磁场大小不变，然后每将被测样品薄膜转动一个角度，测量出在该角度θ₀状态下被测薄膜自发磁化强度M_S在外磁场方向的相应的投影值M，由此得到被测样品薄膜在不同θ

主权项

1、磁性薄膜材料面内单轴各向异性测试方法，其特征是在一外加直流磁场中放置被测样品薄膜，使被测样品薄膜平面与外磁场方向平行，并且使被测样品薄膜可绕与其平面相垂直的轴转动，在进行测试时，首先使外磁场强度大于被测材料的磁饱和强度，使被测薄膜先磁饱和，再将外磁场的强度减小，使外磁场大小介于饱和场和矫顽力场之间，并保持这一外磁场不变，然后每将被测样品薄膜转动一个角度，测量出在该角度θ0状态下被测薄膜自发磁化强度MS 在外磁场方向的相应的投影值M，由此得到被测样品薄膜在不同转角θ0与对应的M值的函数。