PCI测试卡及其测试方法

摘要

一种PCI测试卡，包括：信号发生器、基准时钟发生器、锁相环、控制电路和显示单元。其中信号发生器产生所需的测试信号，基准时钟发生器产生基准时钟信号，锁相环将基准时钟信号等分为若干个相位，并通过其移相功能将信号逐次向前或向后移位一个或数个相位，显示单元显示当前的信号向前或向后所移动相位的个数，控制电路产生控制信号以及信号移位的方向和移动的相位个数。本发明结构简单，能够直接测出建立时间和保持时间容限，且测试精度和测试效率较高。

主权项

1、一种PCI测试卡，其特征在于其包括：基准时钟发生器、锁相环、控制电路，基准时钟发生器产生基准时钟信号，锁相环将该信号等分为若干个相位，并通过其移相功能将信号逐次向前或向后移位一个或数个相位，控制电路控制测试信号的产生以及测试信号移位的方向和移动的相位个数。