发明名称 具有应变矽之半导体结构及其制造方法
摘要 本发明揭露一种具有应变矽之半导体结构及其制造方法。首先,提供一基板。接着,通入一混和气体,以形成一层氮碳化矽缓冲层于上述之基板上,其中混和气体可用以提供矽、氮以及碳的反应源。然后,在预设温度与预设压力下,通入可成长矽晶原料气体,以在上述之氮碳化矽缓冲层上成长应变矽薄膜。
申请公布号 TW200620552 申请公布日期 2006.06.16
申请号 TW093138138 申请日期 2004.12.09
申请人 国立成功大学 发明人 方炎坤;周泽亨;李育周;陈世芳;林俊昱;林俊声
分类号 H01L21/822 主分类号 H01L21/822
代理机构 代理人 蔡坤财
主权项
地址 台南市东区大学路1号