发明名称 防止晶片在合模时破裂之半导体封装方法
摘要 一种防止晶片在合模时破裂之半导体封装方法,其系将一软质软冲层于晶圆等级形成于复数个晶片之背面,在晶圆切割时同时与晶片被切割,再将切割后一晶片设置于一基板上,当压模形成一封胶体时,该晶片系容置于一压模工具之模穴内,且该软质缓冲层系紧贴于该模穴内壁,以防止晶片在合模时破裂。
申请公布号 TW200620497 申请公布日期 2006.06.16
申请号 TW093137650 申请日期 2004.12.06
申请人 南茂科技股份有限公司;百慕达南茂科技股份有限公司 CHIPMOS TECHNOLOGIES (BERMUDA) LTD. 百慕达 发明人 周世文;潘玉堂;林俊宏;吴政庭
分类号 H01L21/56 主分类号 H01L21/56
代理机构 代理人 张启威
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区研发一路1号
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